[發(fā)明專利]內孔成像測量儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810507695.0
• 申請日: 2018-05-24
• 公開（公告）號: CN108759696A
• 公開（公告）日: 2018-11-06
• 發(fā)明（設計）人: 李熙龍
• 申請（專利權）人: 廣東龍?zhí)熘悄軆x器股份有限公司
• 主分類號: G01B11/12
• 分類號: G01B11/12
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;郝傳鑫

本發(fā)明公開一種內孔成像測量儀包括機架、圖像采集器、圖像處理裝置以及用于放置待檢測產品的底座，圖像采集器與底座可相對轉動，且圖像采集器與底座還可相對移動，圖像處理裝置將圖像采集器收集到的多段式圖像進行拼接。藉由該內孔成像測量儀不僅實現了對內孔的尺寸進行測量，同時還可對內孔壁先進行多段式地圖像采集，最后通過圖像處理裝置將采集到的多段圖像依次進行拼接后得到內孔壁的一個完整圖像，使得對內孔的檢測成本低、檢測操作過程簡便且檢測時間短。

技術領域

本發(fā)明涉及成像及測量領域，尤其涉及一種內孔成像測量儀。

背景技術

隨著社會的迅速發(fā)展，出于對安全性能的考慮，人們對于所購買裝置的要求也越來越高。現有的許多裝置由于組裝需要通常都會開設有內孔，例如：汽車發(fā)動機缸體等等。因此對這類的裝置所進行的檢測還包括對其內孔進行測量，除了需要測量內孔的孔徑是否符合生產要求外，對于內孔是否有瑕疵、內孔壁是否有開裂等均需要進行檢測。

現有的對內孔進行測量的方法一般有兩種：第一種檢測方法是對產品采取抽樣檢測的方法，從產品中抽取檢測樣品，然后沿內孔的軸心剖開產品，然后進行檢測，但是該檢測方法具有以下缺陷：(1)其抽樣檢測結果也只能對產品的合格率進行一個大概估算，并不能具體代表對每一個產品的檢測；(2)會破壞產品，且剖開所述產品所需的時間比較長，增加了生產成本。第二種檢測方法是采用X光等射線進行檢測，從內孔的內部向外照射，然后看該射線會否穿過內孔壁，但是這樣子的檢測方法具有以下缺陷：(1)購買該檢測設備的費用昂貴，增加了生產成本；(2)后期對該檢測設備的維護成本也比較高，一般僅用于對一些精密程度高且應用于比較昂貴的產品檢測中。

因此，亟需一種成本低、檢測過程簡便且檢測時間短的內孔成像測量儀。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種用于檢測內孔的內孔成像測量儀，藉由該內孔成像測量儀實現對內孔的尺寸測量以及對內孔壁的成像，使得內孔的檢測成本低、檢測操作過程簡便且檢測時間短。

為了實現上述目的，本發(fā)明提供了一種內孔成像測量儀包括機架、圖像采集器、圖像處理裝置以及用于放置待檢測產品的底座，所述底座安裝于所述機架上，且所述圖像采集器與所述底座還可相對轉動，且所述圖像采集器與所述底座還可相對移動，所述圖像采集器對內孔進行多段式地圖像采集，所述圖像處理裝置將所述圖像采集器收集到的多段式圖像進行拼接。

較佳地，所述圖像采集器與所述底座相對轉動的角度大于或等于360度。

具體地，所述內孔成像測量儀還包括棱鏡，所述棱鏡固定于所述圖像采集器的下方，所述圖像采集器的鏡頭與所述棱鏡相對應。

更具體地，所述圖像采集器的鏡頭豎直向下，所述棱鏡上表面與所述鏡頭正對的部分與水平面呈45度夾角。

更具體地，所述棱鏡藉由一連接桿以實現與所述圖像采集器的相對固定連接。

更具體地，所述內孔成像測量儀還包括光源，所述光源安裝于所述棱鏡的兩側。

較佳地，所述內孔成像測量儀還包括第一導軌，所述第一導軌安裝于所述機架上并沿所述機架的長度方向布置；第二導軌，所述第二導軌藉由滑塊安裝于所述第一導軌上并沿垂直于所述機架的長度方向布置，所述圖像采集器與所述底座藉由所述第二導軌相對滑動；第三導軌，所述第三導軌滑動地安裝于所述第二導軌上并沿所述機架的寬度方向布置，所述圖像采集器與所述第三導軌滑動連接。

較佳地，所述內孔成像測量儀還包括防撞裝置，所述防撞裝置位于所述棱鏡的下方。

較佳地，所述內孔成像測量儀還包括旋轉裝置，所述旋轉裝置藉由一柔性連接管驅動所述圖像采集器轉動。