[發(fā)明專利]一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的方法和系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810507651.8
• 申請(qǐng)日: 2018-05-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108594018A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何英東;劉法志
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/04
• 分類號(hào): G01R27/04
• 代理公司: 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 37105
• 代理人: 李修杰

本發(fā)明提供一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的方法和系統(tǒng)，所述方法包括以下步驟：S1、設(shè)置測(cè)試治具；S2、將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與測(cè)試治具通過(guò)線纜連接，測(cè)試治具USB接口插接到主板的待測(cè)USB口；S3、調(diào)節(jié)網(wǎng)絡(luò)分析儀，使波形完整顯示在屏幕中央；S4、調(diào)用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的標(biāo)記功能，查看并記錄波形，讀取特性阻抗值；S5、線纜切換到另一對(duì)SMA連接器，完成下一組的USB信號(hào)線特性阻抗測(cè)試；S6、完成主板某一個(gè)USB口對(duì)應(yīng)的USB信號(hào)特性阻抗后，依次插接到其他USB口完成主板上所有USB信號(hào)特性阻抗測(cè)試。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)USB信號(hào)線阻抗測(cè)試難度大以及復(fù)雜度高的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)減小測(cè)試難度，提高測(cè)試效率，縮短測(cè)試周期。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及信號(hào)線測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著USB通信速率越來(lái)越高，其特性阻抗是否合乎設(shè)計(jì)值也變得異常重要。因此服務(wù)器主板USB信號(hào)線特性阻抗測(cè)試的重要性和必要性也隨之水漲船高。測(cè)試主板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗，驗(yàn)證PCB制造商生產(chǎn)的電路板是否合格，保證服務(wù)器產(chǎn)品質(zhì)量。

目前主板內(nèi)USB信號(hào)線阻抗測(cè)試比較麻煩。首先，需要在原理圖中找到測(cè)試位置，用刮刀刮開(kāi)PCB電路板表面的涂層，讓測(cè)試位置露出變得可導(dǎo)，然后使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試時(shí)，根據(jù)測(cè)試點(diǎn)的具體位置，調(diào)節(jié)測(cè)試探頭探針間距，將探頭的探針點(diǎn)到事先刮好的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，而且在測(cè)試時(shí)探針接觸也不是很穩(wěn)定。不僅如此，實(shí)際上一塊主板是被各種元器件填滿的，主板表面充滿了焊點(diǎn)和各種元器件針腳等障礙物，也會(huì)增加測(cè)試難度。另外，部分USB信號(hào)線的測(cè)試位置也被USB和網(wǎng)口綜合結(jié)構(gòu)元器件所覆蓋，極不容易測(cè)試，為此增加的測(cè)試難度可想而知。

目前的測(cè)試方法比較適用于測(cè)試一條信號(hào)線或者少量信號(hào)線，但需要測(cè)試多條乃至多個(gè)主板USB信號(hào)線的特性阻抗時(shí)，由于測(cè)試數(shù)量龐大，按目前測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需花費(fèi)大量時(shí)間且易出錯(cuò)。因此現(xiàn)有的測(cè)試手段進(jìn)行主板USB信號(hào)線特性阻抗測(cè)試時(shí)，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且效率非常低。除此之外，因部分USB信號(hào)線的位置關(guān)系，其可作為測(cè)試點(diǎn)的位置被元器件覆蓋，測(cè)試難度極大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的方法和系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)USB信號(hào)線阻抗測(cè)試難度大以及復(fù)雜度高的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)減小測(cè)試難度，提高測(cè)試效率，縮短測(cè)試周期。

為達(dá)到上述技術(shù)目的，本發(fā)明提供了一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的方法，包括以下步驟：

S1、設(shè)置測(cè)試治具；

S2、將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與測(cè)試治具通過(guò)線纜連接，測(cè)試治具USB接口插接到主板的待測(cè)USB口；

S3、調(diào)節(jié)網(wǎng)絡(luò)分析儀，使波形完整顯示在屏幕中央；

S4、調(diào)用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的標(biāo)記功能，查看并記錄波形，讀取特性阻抗值；

S5、線纜切換到另一對(duì)SMA連接器，完成下一組的USB信號(hào)線特性阻抗測(cè)試；

S6、完成主板某一個(gè)USB口對(duì)應(yīng)的USB信號(hào)特性阻抗后，依次插接到其他USB口完成主板上所有USB信號(hào)特性阻抗測(cè)試。

優(yōu)選地，所述設(shè)置測(cè)試治具具體包括以下操作：

設(shè)置PCB板以及設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)USB A口公頭，PCB內(nèi)部根據(jù)USB接口PIN腳的位置，設(shè)計(jì)兩對(duì)1000hm的差分對(duì)信號(hào)線，將其TX和RX信號(hào)引出到PCB板內(nèi)，并端接SMA連接器公頭。

優(yōu)選地，所述差分對(duì)的兩根線長(zhǎng)度相差小于5mil。

優(yōu)選地，在所述步驟S2之前還包括將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

本發(fā)明還提供了一種測(cè)試板內(nèi)USB信號(hào)線特性阻抗的系統(tǒng)，包括：

測(cè)試治具模塊，用于設(shè)置測(cè)試治具；