[發明專利]多負載通道電子控制器老化下線檢測系統

在審

• 申請號: 201810507213.1
• 申請日: 2018-05-24
• 公開（公告）號: CN108958214A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 劉貽林;王仲堅
• 申請（專利權）人: 廣東戈蘭瑪汽車系統有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02;G01R31/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 陳正興

本發明公開了一種多負載通道電子控制器老化下線檢測系統，包括：檢測儀，所述檢測儀包括多個，每一個檢測儀檢測一個待檢測產品；老化箱，用于放置待檢測產品，產生設定的恒溫環境；中央處理器模塊，通過CAN通訊模塊與所述檢測儀連接，同時控制多個檢測儀的工作，每一個CAN通訊模塊與一個檢測儀連接；觸摸顯示屏，通過RS232通訊模塊與所述中央處理器模塊連接。本發明通過中央處理器模塊控制多個CAN通訊模塊從而實現了對多個檢測儀的控制，通過RS232總線將檢測數據實時發送至觸摸顯示屏，由觸摸顯示屏實時顯示檢測儀的檢測結果，能夠及時發現發生故障的檢測產品，克服單一的老化下線檢測手段，提高高溫老化下線檢測的可靠標準性和檢測效率。

技術領域

本發明涉及檢測設備技術領域，尤其涉及一種多負載通道電子控制器老化下線檢測系統。

背景技術

電子產品，不管是元件、部件、整機、還是設備，都要進行老化和老化測試。老化就是模擬產品在惡劣環境的運用。老化和老化測試不是一個概念，先老化后測試，電子產品通過制造后形成一個完整的產品。已經可以發揮使用價值，但使用以后會發現有這樣那樣的問題，又發現這樣的問題絕大部分發生在開始的幾小時或幾十小時內。后來就規定了電子產品的老化和測試。仿照或者等效產品的使用狀態。通過測試檢測后，能驗證產品的可靠性，這就是老化測試的意義。在汽車電子產品在加工過程中，由于經歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷。無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導致產品暫時可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產品不能正常工作，例如焊錫不足，產品雖然可以用，但輕微振動可能就會使焊點斷路。目前一般的老化檢測儀都是單一的對某一個產品進行檢測和數據分析，最后該結果由操作員工記錄。

老化檢測是現代電子產品制造系統中的重要組成部分，用來檢驗產品質量，分析產品缺陷，反饋可測性要求，是保證產品質量的重要手段。老化檢測一般包括在線測試系統和功能測試系統。在線測試的目的一般是為了找出被測單板元器件及連線的故障，而功能測試的目的是測試整機或單板的功能是否能正常工作，各項功能指標是否滿足要求。

在現有技術的檢測設備中，是先把電子控制器放入高溫箱，經過高溫85℃和規定時間的高溫后從高溫箱里一個個拿出來，再經過加負載一個一個進行老化測試后檢測。這樣高溫檢測，對測試員帶來高溫的煩勞和可能隨時被高溫燙傷的可能，還因為從標準溫度內拿出來檢測，期間測試件的溫度也受到不同程度影響，造成測試溫度不達標，老化測試檢測效率很低。

因此，現有技術需要改進。

發明內容

本發明實施例所要解決的一個技術問題是：提供一種多負載通道電子控制器老化下線檢測系統，以解決現有技術中存在的問題。

本發明提供的一種多負載通道電子控制器老化下線檢測系統，包括：

檢測儀，所述檢測儀包括多個，每一個檢測儀依次檢測一個待檢測產品；

老化箱，所述老化箱用于放置待檢測產品，所述老化箱產生設定的恒溫環境，促進待檢測產品的加速老化，所述老化箱內設置檢測儀的檢測端，所述檢測端用于檢測待檢測產品在老化箱內的工作參數；

中央處理器模塊，所述中央處理器模塊通過CAN通訊模塊與所述檢測儀連接，所述中央處理器模塊同時控制多個檢測儀的工作，所述CAN通訊模塊的數量與所述檢測儀數量一致，每一個CAN通訊模塊通過CAN總線與一個檢測儀連接；

觸摸顯示屏，所述觸摸顯示屏通過RS232通訊模塊與所述中央處理器模塊連接，所述觸摸顯示屏用于接收所述中央處理器模塊發送的檢測數據，并接收所述中央處理器模塊設定的觸摸顯示屏工作參數。

基于本發明上述多負載通道電子控制器老化下線檢測系統的另一個實施例中，所述中央處理器模塊包括存儲單元，所述存儲單元用于接收所述檢測儀的檢測數據，并對存儲的數據進行打包后發送到觸摸顯示屏。