[發明專利]測試系統自檢適配器連線生成方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201810501630.5
• 申請日: 2018-05-23
• 公開（公告）號: CN108776723B
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發明（設計）人: 劉碩;劉毅;邱田華;吳波;譚旭;陳鵬飛;鄒德軍;宋斌
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G06F30/3947
• 分類號: G06F30/3947;G06F30/398
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 劉瑩瑩

本發明公開了測試系統自檢適配器連線生成方法、裝置、設備及存儲介質，將描述自檢關系文檔輸入至自檢關系輸入模塊，通過調用已有的API接口，可以從文檔中解析得到系統內自檢關系；自檢關系分配驗證模塊，可以通過導入已建立完畢的ATML模型與系統自檢關系，得到系統自檢關系與測試站端口間關系；自檢適配器連線關系自動生成模塊，通過系統自檢與測試站端口間關系，得出自檢適配器端口間連線關系；自檢適配器連線關系導出模塊，將自檢適配器端口間連接關系導出生成XML格式文檔。利用面向信號思想指導自檢適配器連線關系的開發，減少系統集成人員的開發工作，降低系統專用型、增強系統復用性。

技術領域

本發明涉及測試系統技術領域，尤其涉及測試系統自檢適配器連線生成方法、裝置設備及存儲介質。

背景技術

測試系統自檢是指在使用測試系統對被測件進行測試之前對測試系統的可用性進行的一種檢查。該檢查的內容主要包括測試系統內測試儀器與開關設備是否能正常工作、系統控制計算機與測試儀器之間的通訊是否正常、信號連接線路是否完好、激勵信號輸出是否正確、響應信號測量是否準確等。測試系統功能正常是對被測件準確測試的前提，因此測試系統自檢是自動測試中重要且不可缺少的構成環節之一，自檢適配器(ITA,Interface Test Adapter)又是完成測試系統自檢不可或缺的組成部分。

在自動化測試系統中，測試程序(TPS)開發采用的技術直接與測試系統性能掛鉤，目前測試程序開發技術主要有兩種，一種是面向儀器的測試程序開發技術，一種是面向信號的測試程序開發技術。面向儀器的測試程序開發技術的核心特征是采用儀器操作描述測試程序，而面向信號的測試程序為了屏蔽具體的儀器操作，采用與具體儀器無關的信號屬性進行開發。

目前測試系統的自檢程序普遍采用面向儀器方式開發。在面向儀器方式開發的自檢程序中，自檢適配器的連線關系，需要自檢流程設計人員先將自檢流程設計完畢后，才能利用自檢流程完成自檢適配器內部連線關系，指導自檢適配器的物理層的開發工作。在這種面向儀器的自檢適配器連線關系的開發方式下，首先面臨人工開發工作量大的問題；其次在開發完畢后難以進行簡便地針對性修改；最后自檢適配器連線關系是針對某系統的，專用性強，難以進行復用，開發工作量大且系統可裁剪性與可擴充性弱。

為簡化自檢適配器連線關系的開發過程，解決目前面向儀器的開發方式進行自檢開發過程中，自檢適配器內部連線的邏輯關系的問題，本專利提出基于面向信號的測試系統自檢適配器連線生成方法及裝置，依賴于測試系統軟件對于面向信號(ATML)開發方式的支持，本發明利用自檢適配器連線自動生成方法解決適配器連線邏輯關系開發工作量大且難以進行針對性改動的問題；利用面向信號的方式解決難以復用和專用型強的問題，提高系統可裁剪性與可擴充性。

目前儀器的開發方式開發自檢適配器連線邏輯關系需要經過以下步驟，如圖1所示：

1、根據測試系統中需要自檢的資源收集相關資料并整理；

2、設計該測試系統的自檢方法；

3、利用該自檢方法，分析系統內部需要自檢的激勵或測量信號連接邏輯關系，得到自檢邏輯關系；

4、利用自檢邏輯關系，分析測試站端口所需的連接關系，得到測試站端口連接關系；

5、利用測試站端口連接關系，設計自檢適配器內部連接關系；

6、重復步驟3至步驟5，修改自檢邏輯/測試站端口連接關系/自檢適配器，直至自檢適配器內部連接關系能否滿足自檢需求，則結束。

在這種自檢適配器連線關系的開發方式下，首先面臨人工開發工作量大的問題；其次在開發完畢后難以進行簡便地針對性修改；最后自檢適配器連線關系是針對某系統進行開發，具有專用性，難以進行復用，開發工作量大且系統可裁剪性與可擴充性差。

發明內容