[發(fā)明專利]一種基于米勒平臺時延的IGBT在線狀態(tài)監(jiān)測方法與測量系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810448908.7 | 申請日: | 2018-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN108627753A | 公開(公告)日: | 2018-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張國鋼;劉競存;陳前;齊路;秦錚;王建華 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 預(yù)處理電路 平臺時延 驅(qū)動信號 在線狀態(tài)監(jiān)測 測量系統(tǒng) 驅(qū)動芯片 特征參數(shù) 控制器 電力電子器件 健康狀態(tài)監(jiān)測 時間測量電路 實時在線監(jiān)測 狀態(tài)監(jiān)測技術(shù) 參數(shù)提取 電壓信號 過程驅(qū)動 健康狀態(tài) 老化過程 驅(qū)動電路 失效模式 壽命評估 一端連接 在線監(jiān)測 狀態(tài)監(jiān)測 分兩路 主電路 標定 敏感 評估 開通 | ||
本發(fā)明公開了一種基于米勒平臺時延的IGBT在線狀態(tài)監(jiān)測方法與測量系統(tǒng),驅(qū)動信號預(yù)處理電路的一端經(jīng)時間測量電路與控制器的一端連接,控制器的另一端與IGBT器件驅(qū)動電路的驅(qū)動芯片連接,驅(qū)動芯片分兩路,一路與IGBT器件連接,另一路與驅(qū)動信號預(yù)處理電路連接,驅(qū)動信號預(yù)處理電路通過提取IGBT開通過程驅(qū)動電壓信號中的米勒平臺時延作為IGBT狀態(tài)監(jiān)測的特征參數(shù)進行初始狀態(tài)標定與實時在線監(jiān)測,對老化過程中IGBT器件的健康狀態(tài)與可靠性進行評估。本發(fā)明可實現(xiàn)在線監(jiān)測、參數(shù)提取不影響主電路工作、對多種典型失效模式敏感的優(yōu)點,可直接用于IGBT的健康狀態(tài)監(jiān)測與壽命評估,用于解決現(xiàn)有電力電子器件狀態(tài)監(jiān)測技術(shù)中缺乏有效的特征參數(shù)的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電力電子器件可靠性技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于米勒平臺時延的IGBT在線狀態(tài)監(jiān)測方法與測量系統(tǒng)。
背景技術(shù)
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,絕緣柵雙極型晶體管),是能源變換與傳輸?shù)葒覒?zhàn)略產(chǎn)業(yè)的核心器件,在軌道交通、智能電網(wǎng)、航空航天、電動汽車與新能源裝備等領(lǐng)域應(yīng)用極廣,IGBT是應(yīng)用最廣泛的功率器件,有著不可或缺的地位。
隨著IGBT的廣泛應(yīng)用,其功率等級和系統(tǒng)集成度越來越高,工作環(huán)境更加惡劣,使用條件日益苛刻,對可靠性的要求越來越嚴苛。在電力電子設(shè)備中因?qū)GBT的使用不當,或者長期工作導(dǎo)致的老化等各種原因都會使器件失效而發(fā)生損壞。若器件發(fā)生突發(fā)性損壞,輕則造成設(shè)備的嚴重故障,重則造成企業(yè)停工停產(chǎn),甚至造成嚴重災(zāi)難性的事故。
目前,狀態(tài)監(jiān)測技術(shù)是提高IGBT器件可靠性的最有效的手段和方法,如能實時監(jiān)測IGBT的老化和故障狀態(tài),就可以及時替換,進而避免造成重大損失。
狀態(tài)監(jiān)測是指監(jiān)測出系統(tǒng)早期微弱的故障,如果監(jiān)測的數(shù)據(jù)漸漸偏離健康狀態(tài),則要評估當前狀態(tài)偏離正常態(tài)的程度(即故障級別)。電力電子系統(tǒng)中IGBT器件的狀態(tài)監(jiān)測的研究還處于初期階段,主要是缺乏有效的狀態(tài)監(jiān)測特征參數(shù)。常規(guī)地,以IGBT導(dǎo)通管壓降VCE,ON為特征參數(shù)進行狀態(tài)監(jiān)測,但該參數(shù)在老化過程的變化量相對較小,在母線電壓值為幾百伏甚至上千伏時,測量毫伏級的變化量對采樣系統(tǒng)的要求極高,并且VCE,ON只與封裝級的老化效應(yīng)相關(guān),忽略芯片級老化效應(yīng),無法完整獲取IGBT的綜合性健康狀態(tài)信息。針對芯片級老化效應(yīng),通常以IGBT閾值電壓或集電極漏電流為特征參數(shù)進行狀態(tài)監(jiān)測,然而這些參數(shù)的測量只能采用離線方式,需要停機測試,這顯然不適合現(xiàn)場應(yīng)用。因此,亟需發(fā)掘適用于IGBT狀態(tài)監(jiān)測新型特征參數(shù),以實現(xiàn)在線參數(shù)提取及多種老化效應(yīng)診斷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種基于米勒平臺時延的IGBT在線狀態(tài)監(jiān)測方法與測量系統(tǒng),具有可實現(xiàn)在線監(jiān)測、參數(shù)提取不影響主電路工作、對多種典型失效模式敏感的優(yōu)點,可直接用于IGBT的健康狀態(tài)監(jiān)測與壽命評估,用于解決現(xiàn)有電力電子器件狀態(tài)監(jiān)測技術(shù)中缺乏有效的特征參數(shù)的問題。
本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種基于米勒平臺時延的IGBT在線狀態(tài)測量系統(tǒng),包括驅(qū)動信號預(yù)處理電路、時間測量電路和控制器,驅(qū)動信號預(yù)處理電路的一端經(jīng)時間測量電路與控制器的一端連接,控制器的另一端與IGBT器件驅(qū)動電路的驅(qū)動芯片連接,驅(qū)動芯片分兩路,一路與IGBT器件連接,另一路與驅(qū)動信號預(yù)處理電路連接,驅(qū)動信號預(yù)處理電路通過提取IGBT開通過程驅(qū)動電壓信號中的米勒平臺時延作為IGBT狀態(tài)監(jiān)測的特征參數(shù)進行初始狀態(tài)標定與實時在線監(jiān)測,對老化過程中IGBT器件的健康狀態(tài)與可靠性進行評估。
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