[發明專利]一種基于像素的色彩還原裝置及方法在審
| 申請號: | 201810445092.2 | 申請日: | 2018-05-10 |
| 公開(公告)號: | CN108377373A | 公開(公告)日: | 2018-08-07 |
| 發明(設計)人: | 曾勇;尚宇盟 | 申請(專利權)人: | 杭州雄邁集成電路技術有限公司 |
| 主分類號: | H04N9/73 | 分類號: | H04N9/73;H04N9/67 |
| 代理公司: | 浙江納祺律師事務所 33257 | 代理人: | 鄭滿玉 |
| 地址: | 311422 浙江省杭州市富陽區銀湖*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 色溫 色彩矩陣 還原 色彩還原 像素 校正 對比色 色彩校正矩陣 白平衡增益 標準色溫 標準數據 采集數據 插值計算 成像環境 處理模塊 復雜光源 還原模塊 局部估計 擬合函數 視頻色彩 數據輸出 圖像色彩 應用場景 原始數據 還原度 像素點 標定 色卡 子塊 全局 采集 圖像 | ||
1.一種基于像素的色彩還原裝置,其特征在于,包括預標定處理模塊和圖像色彩還原模塊,其中,預標定處理模塊用于在各標準色溫環境下分別采集24色卡的Raw數據,計算各個色溫環境下的白平衡增益值,通過對比色卡標準數據與采集數據,得到對應色溫環境下色彩校正矩陣,并建立色溫-色彩矩陣元素擬合函數用于后續色彩矩陣估計;圖像色彩還原模塊用于原始數據輸入,進行子塊劃分、局部色溫計算、色溫插值計算、色彩矩陣計算、各像素點色彩矩陣校正還原,最終校正后數據輸出。
2.如權利要求1所述的基于像素的色彩還原裝置,其特征在于,所述預標定處理模塊還包括標定數據獲取模塊、增益-色溫模塊以及色溫-色彩矩陣模塊,其中,標定數據獲取模塊在各標準色溫環境下,分別采集24色卡的Raw數據,增益-色溫模塊用于計算各個色溫環境下的白平衡增益值,色溫-色彩矩陣模塊通過對比色卡標準數據與采集數據,得到對應色溫環境下色彩校正矩陣,并建立色溫-色彩矩陣元素擬合函數用于后續色彩矩陣估計。
3.如權利要求1所述的基于像素的色彩還原裝置,其特征在于,所述圖像色彩還原模塊還包括原始數據輸入模塊、子塊劃分模塊、局部色溫計算模塊、色溫插值模塊、色彩矩陣計算模塊、校正還原模塊以及數據輸出模塊,其中,原始數據輸入模塊輸入未經色彩還原的RGB格式圖像數據;
子塊劃分模塊連接原始數據輸入模塊,將原始圖像數據劃分為K*L大小的子塊,用于局部色溫估計;
局部色溫計算模塊首先獲取子塊的白平衡增益分量,然后利用標定好的增益-色溫曲線得到估計的局部色溫值;
色溫插值模塊接收子塊色溫矩陣,并通過插值算法得到圖像每個像素點的色溫估計值,用于基于像素點的色彩矩陣估計;
色彩矩陣計算模塊遍歷插值模塊輸出的每個像素點的色溫數據,分別通過9個色溫-色彩矩陣元素函數,擬合得到該像素點的色彩矩陣;
校正還原模塊基于像素點進行色彩還原,以該點色彩矩陣乘以該點R、G、B分量列向量,得到該點校正后的R、G、B列向量;
數據輸出模塊用于傳輸色彩還原后的圖像數據。
4.一種基于像素的色彩還原方法,其特征在于,還包括以下步驟:
S1:輸入RGB待色彩還原圖像;
S2:預標定處理:在各標準色溫環境下分別采集24色卡的Raw數據,計算各個色溫環境下的白平衡增益值,通過對比色卡標準數據與采集數據,得到對應色溫環境下色彩校正矩陣,并建立色溫-色彩矩陣元素擬合函數用于后續色彩矩陣估計;
S3:圖像色彩還原:原始數據輸入,進行子塊劃分、局部色溫計算、色溫插值計算、色彩矩陣計算、各像素點色彩矩陣校正還原,最終校正后數據輸出。
5.如權利要4所述的基于像素的色彩還原方法,其特征在于,所述的S3步驟色溫插值算法包括雙線性插值算法或蘭索斯插值算法。
6.如權利要4所述的基于像素的色彩還原方法,其特征在于,所述圖像色彩還原還包括以下步驟:
a)待色彩還原的RGB格式圖像數據輸入;
b)將待色彩還原的RGB格式圖像數據劃分為K*L大小的子塊,用于局部色溫估計;
c)首先獲取子塊的白平衡增益分量,然后利用標定好的增益-色溫曲線得到估計的局部色溫值;
d)對子塊色溫計算輸出結果進行插值算法得到圖像每個像素點的色溫估計值,用于基于像素點的色彩矩陣估計;
e)d步驟輸出的每個像素點的色溫數據,分別通過9個色溫-色彩矩陣元素函數,擬合得到該像素點的色彩矩陣;
f)基于像素點進行色彩還原,以該點色彩矩陣乘以該點R、G、B分量列向量,得到該點校正后的R、G、B列向量;
h)色彩還原后的圖像數據輸出給后續模塊處理。
7.如權利要6所述的基于像素的色彩還原方法,其特征在于,所述的b步驟的K,L為可調節參數,用于圖像分塊處理。
8.如權利要7所述的基于像素的色彩還原方法,其特征在于,所述的K=64,L=64。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州雄邁集成電路技術有限公司,未經杭州雄邁集成電路技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810445092.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





