[發(fā)明專利]低氣壓環(huán)境試驗箱

在審

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• 申請日: 2018-05-10
• 公開（公告）號: CN108855251A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發(fā)明（設計）人: 劉志霞;周美飛
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區(qū)安測檢測設備有限公司
• 主分類號: B01L1/02
• 分類號: B01L1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開了一種低氣壓環(huán)境試驗箱，包括試驗箱主體，所述的試驗箱主體包括試驗室和設在試驗室前側的箱門，所述的箱門一端鉸接在試驗室的左側，所述的箱門另一端卡接在試驗室的右側，所述的箱門上設有密封墊，所述的密封墊位于試驗室和箱門之間，所述的試驗室包括試驗罩和真空室，所述的試驗罩和真空室均前側開口，所述的試驗罩前側面設有與試驗罩開口形狀相同的板框，所述的板框開口在豎直平面的投影位于試驗罩開口在豎直平面的投影內，所述的真空室前端固定在板框內且真空室前端伸出板框外，所述的真空室的五個面均與試驗罩之間有空隙，本發(fā)明提供一種密封性能好使得性能試驗的準確率高的低氣壓環(huán)境試驗箱。

技術領域

本發(fā)明涉及試驗產品技術領域領域，尤其涉及低氣壓環(huán)境試驗箱。

背景技術

低氣壓試驗系統(tǒng)(或試驗箱)廣泛應用于航空、航天、信息、電子等領域，主要用來進行儀器儀表、電工產品、材料、零部件或者設備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應性與可靠性試驗。比如，低氣壓試驗系統(tǒng)(或試驗箱)可以模擬高原海拔氣候或者高空氣候等特殊條件，將試驗樣品置于其中，可以對試驗樣品進行相應的性能試驗，低氣壓環(huán)境試驗箱的密封性能很重要，這關系著性能試驗的準確率，據現有技術，低氣壓環(huán)境試驗箱的密封性能差，性能試驗的準確率低。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的技術問題是：克服以上現有技術的缺陷，提供一種密封性能好使得性能試驗的準確率高的低氣壓環(huán)境試驗箱。

本發(fā)明所采取的技術方案是：一種低氣壓環(huán)境試驗箱，包括試驗箱主體，所述的試驗箱主體包括試驗室和設在試驗室前側的箱門，所述的箱門一端鉸接在試驗室的左側，所述的箱門另一端卡接在試驗室的右側，所述的箱門上設有密封墊，所述的密封墊位于試驗室和箱門之間，所述的試驗室包括試驗罩和真空室，所述的試驗罩和真空室均前側開口，所述的試驗罩前側面設有與試驗罩開口形狀相同的板框，所述的板框開口在豎直平面的投影位于試驗罩開口在豎直平面的投影內，所述的真空室前端固定在板框內且真空室前端伸出板框外，所述的真空室的五個面均與試驗罩之間有空隙，所述的空隙與試驗箱主體外部連通，所述的密封墊設在板框與真空室接觸的位置，所述的密封墊位于板框與箱門之間，所述的板框與箱門之間設有自動調節(jié)箱門壓在板框上的松緊程度的自調節(jié)裝置。

采用以上結構后，本發(fā)明與現有技術相比具有以下優(yōu)點：把試驗樣品放在試驗室內進行相應的性能試驗，試驗室內需要保持真空狀態(tài)，試驗室內的密封性能直接影響性能試驗的準確率，把試驗室分為試驗罩和真空室，真空室內抽真空，在試驗罩前側設板框，讓真空室前端固定在板框內，這樣就讓真空室的上表面、左右側面，底表面和后側面分別與試驗罩的上表面、左右側面，底表面(也可以是底部，底部中空)和后側面有空隙，在板框與箱門之間設密封墊，由于真空室內是真空，而真空室外是大氣壓，真空室內的真空狀態(tài)會把密封墊吸住在板框上，由于真空室的五個面均與試驗罩之間有空隙，同時真空室前側伸出板框形成凸起，這樣密封墊與外面空氣的接觸面積增大同時密封墊與真空室的接觸面積也增大，真空室的真空狀態(tài)更能把密封墊吸在板框上，試驗罩與真空室之間處于離空狀態(tài)，也就是真空室固定在板框上，真空室不與試驗室接觸，這樣大氣壓會把密封墊緊緊壓在板框上，真空室會把密封墊吸在板框上，密封性能好，使得性能試驗的準確率高。