[發明專利]光譜輻射亮度響應度測量系統

在審

• 申請號: 201810435108.1
• 申請日: 2018-05-09
• 公開（公告）號: CN110470400A
• 公開（公告）日: 2019-11-19
• 發明（設計）人: 孫廣尉;孫紅勝;王加朋;張玉國;楊旺林;宋春暉;吳紅霞
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及光學測試設備技術領域，公開了一種光譜輻射亮度響應度測量系統。該系統包括發出真空紫外光輻射的真空紫外光源、對入射的真空紫外光輻射進行分光處理后輸出預定波長的光輻射的真空紫外單色分光裝置、對輸出的預定波長的光輻射進行均勻處理的真空紫外勻光裝置、參考輻射亮度計、在參考輻射亮度計對準真空紫外勻光裝置和待校準輻射計對準真空紫外勻光裝置之間切換的切換裝置、根據所述參考輻射亮度計和所述待校準輻射計分別測量得到的輻射亮度值計算所述待校準輻射計的光譜輻射亮度響應度控制器和提供真空環境的無油真空倉。由此，可以準確獲得待校輻射計的光譜輻射亮度響應度。

技術領域

本發明涉及光學測試設備技術領域，尤其涉及一種光譜輻射亮度響應度測量系統。

背景技術

真空紫外光譜輻射計的工作譜段為空間物質成分重要的特征譜段，并且能夠同時給出探測目標的真空紫外光譜信息，其具有的優勢使得真空紫外光譜輻射計在航天技術迅速進步、空間科學研究空前發展的今天成為了世界各國爭相關注的焦點，其屢被發射到太空中用以對地球、太陽系乃至整個宇宙進行觀測，通過對這些不同天體目標真空紫外輻射強度和變化的觀測，反演出多種物質的含量和變化規律，從而為日地空間環境、空間天氣、宇宙起源等許多前沿科學研究提供大量的研究資料和可靠數據。

校準測試是真空紫外光譜輻射計發射前必不可少的重要環節，是衡量產品能否正常應用的關鍵。真空紫外光譜輻射計的光譜輻射亮度響應度可以用于輻射計的校準測試，然而，現有技術中已有的響應度測量方法通常存在準確率較低的問題，相應地也就無法精確地實現真空紫外光譜輻射計的校準。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術不足，提供了一種光譜輻射亮度響應度測量系統，能夠解決上述現有技術中的問題。

本發明的技術解決方案：一種光譜輻射亮度響應度測量系統，該系統包括真空紫外光源、真空紫外單色分光裝置、真空紫外勻光裝置、參考輻射亮度計、切換裝置、控制器和無油真空倉，其中，

所述無油真空倉為所述真空紫外光源、所述真空紫外單色分光裝置、所述真空紫外勻光裝置、所述真空紫外輻射亮度計和所述切換裝置提供真空環境；

所述真空紫外光源用于發出真空紫外光輻射；

所述真空紫外單色分光裝置用于對入射的真空紫外光輻射進行分光處理，輸出預定波長的光輻射；

所述真空紫外勻光裝置用于對輸出的預定波長的光輻射進行均勻處理；

所述切換裝置用于在所述參考輻射亮度計對準所述真空紫外勻光裝置和待校準輻射計對準所述真空紫外勻光裝置之間切換，所述參考輻射亮度計和所述待校準輻射計分別對均勻處理后的光輻射進行輻射亮度值測量；

所述控制器用于根據所述參考輻射亮度計和所述待校準輻射計分別測量得到的輻射亮度值計算所述待校準輻射計的光譜輻射亮度響應度。

優選地，所述真空紫外光源為氘燈。

優選地，所述真空紫外單色分光裝置包括真空紫外光柵、掃描旋轉機構、電機驅動控制機構和光路偏轉機構。

優選地，所述真空紫外勻光裝置為真空準直漫透射鏡。

優選地，所述參考輻射亮度計為光闌式真空紫外輻射亮度計。

優選地，所述切換裝置為二維切換轉臺。

優選地，所述真空紫外勻光裝置、所述參考輻射亮度計和所述切換裝置設置在所述無油真空倉內。

優選地，所述真空紫外單色分光裝置具有輸入接口和輸出接口，所述輸入接口與所述真空紫外光源連接，所述輸出接口與所述無油真空倉連接，所述無油真空倉通過所述輸入接口和所述輸出接口對所述真空紫外單色分光裝置和所述真空紫外光源抽真空以提供真空環境。