[發明專利]一種基于殘差最小的電阻抗層析成像圖像分割方法有效
| 申請號： | 201810433712.0 | 申請日： | 2018-05-08 |
| 公開（公告）號： | CN108830875B | 公開（公告）日： | 2021-04-27 |
| 發明（設計）人： | 董峰;梁光輝;任尚杰 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G06T7/136 | 分類號： | G06T7/136;G06T5/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 程毓英 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 最小 阻抗 層析 成像 圖像 分割 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于殘差最小的電阻抗層析成像圖像分割方法，該方法將電阻抗層析成像獲得的電阻抗分布值降序排列用作閾值候選向量，通過順序選取閾值向量中的閾值進行圖像二值化分割，計算分割圖像邊界正向電壓與測量電壓的殘差，若殘差小于預設值，選取最小殘差所對應的分割圖像作為最優閾值分割圖像，步驟如下：
(1)將被測對象置于電阻抗層析成像測量系統中，對電極實施激勵，獲取電極的邊界測量值p；
(2)將被測場域內電阻抗分布離散化表征為n個像素點的電阻抗分布圖像，并計算邊界測量值p關于成像區域內離散分布的電阻抗值的靈敏度矩陣J；
(3)利用某種圖像重建算法獲取電阻抗層析成像重建圖像x；
(4)將圖像x的像素值進行降序排列，并保存到向量L中，作為圖像分割的候選閾值向量；
(5)選取L的第k個元素作為圖像分割閾值，設k的初值為1，對x進行分割，獲得x的二值化圖像bk，計算投影矩陣
(6)利用投影矩陣計算二值圖像bk所對應的最優電導率估計gk，并計算殘差d(k)；
(7)若殘差小于預設值τ，停止迭代，選取bk作為x的最優二值圖像，否則，設k＝k+1，并返回步驟5繼續迭代。
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