[發明專利]一種凍干參類加工系統及其控制方法

在審

• 申請號: 201810418601.2
• 申請日: 2018-05-04
• 公開（公告）號: CN108870872A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 白寧;張貴峰;孔英俊
• 申請（專利權）人: 黑龍江神守藥業有限公司
• 主分類號: F26B5/06
• 分類號: F26B5/06;F26B25/22;G01N21/359;G01N21/3563
• 代理公司: 北京酷愛智慧知識產權代理有限公司 11514
• 代理人: 安娜

1.一種凍干參類加工系統，其特征在于，包括真空冷凍干燥機、近紅外光譜檢測儀和控制器，所述真空冷凍干燥機用于對清洗后的待檢參類進行真空冷凍干燥；所述近紅外光譜檢測儀用于采集真空冷凍干燥機中待檢參類的近紅外光譜；所述控制器存儲有控制指令，用于控制真空冷凍干燥機工作；所述控制器中還存儲有標準參類樣品的不同凍干階段的水分定量分析模型，控制器根據所述不同凍干階段的水分定量分析模型對所述待檢參類近紅外光譜進行水分測定，控制器判斷待檢參類水分含量是否達到當前凍干階段的標準參類樣品的水分含量，若判斷結果為是，控制真空冷凍干燥機調節凍干控制數據或停止工作。

2.如權利要求1所述的凍干參類加工系統，其特征在于，所述水分定量分析模型的建立方法包括：

獲取標準參類樣品在其中一個凍干階段的近紅外光譜；

對所述近紅外光譜進行預處理，得到處理后的近紅外光譜數據；

以標準參類樣品水分含量作為關鍵質量控制指標，確定最佳光譜波段；

建立標準參類樣品的關鍵質量控制指標和與得到處理后的近紅外光譜數據之間的水分定量分析模型。

3.如權利要求2所述的凍干參類加工系統，其特征在于，對所述近紅外光譜進行預處理的方法采用多元散射校正方法。

4.如權利要求1-3之一所述的凍干參類加工系統，其特征在于，所述近紅外光譜檢測儀采用的掃描波段為5568.3cm^-1～4350.5cm^-1。

5.如權利要求4所述的凍干參類加工系統，其特征在于，所述凍干控制數據包括真空壓強、真空溫度和凍干時間。

6.一種凍干參類加工控制方法，適用于凍干參類加工系統，其特征在于，具體包括以下步驟：

控制器控制真空冷凍干燥機對清洗后的待檢參類進行預凍和真空冷凍干燥：

控制器接收近紅外光譜檢測儀采集待檢參類的近紅外光譜；

控制器中存儲標準參類樣品的不同凍干階段的水分定量分析模型，控制器根據不同凍干階段的標準參類樣品的水分定量分析模型對相應階段的待檢參類近紅外光譜進行水分測定，控制器判斷待檢參類水分含量是否達到當前凍干階段的標準參類樣品的水分含量，得到判斷結果；

若判斷結果為是，控制器控制真空冷凍干燥機調節凍干控制數據或者停止工作。

7.如權利要求6所述的凍干參類加工控制方法，其特征在于，所述水分定量分析模型的建立方法包括：

獲取標準參類樣品在其中一個凍干階段的近紅外光譜；

對所述近紅外光譜進行預處理，得到處理后的近紅外光譜數據；

以標準參類樣品水分含量作為關鍵質量控制指標，確定最佳光譜波段；

建立標準參類樣品的關鍵質量控制指標和與得到處理后的近紅外光譜數據之間的水分定量分析模型。

8.如權利要求7所述的凍干參類加工控制方法，其特征在于，對所述近紅外光譜進行預處理的方法采用多元散射校正方法。

9.如權利要求6-8之一所述的凍干參類加工控制方法，其特征在于，所述近紅外光譜檢測儀采用的掃描波段為5568.3cm^-1～4350.5cm^-1。

10.如權利要求9所述的凍干參類加工控制方法，其特征在于，所述凍干控制數據包括真空壓強、真空溫度和凍干時間。