[發明專利]短路檢測裝置及具備短路檢測裝置的裝置

有效

• 申請號: 201810399007.3
• 申請日: 2018-04-28
• 公開（公告）號: CN108872761B
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 兼田博利
• 申請（專利權）人: 富士電機株式會社
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 包躍華;金玉蘭

1.一種短路檢測裝置，其特征在于，具備：

電壓檢測電路，其檢測從柵極驅動電路輸入到半導體元件的柵極電壓；

短路檢測電路，其僅在過渡期間的至少一部分，在所述半導體元件的柵極電壓變為第一基準電壓以上時檢測出所述半導體元件的短路狀態，所述過渡期間為從所述柵極驅動電路接收到導通信號起到開始所述半導體元件的米勒平臺為止的期間，

所述第一基準電壓小于米勒電壓。

2.根據權利要求1所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間為從所述半導體元件的柵極電壓變為柵極閾值電壓以上起到開始所述米勒平臺為止的期間。

3.根據權利要求1或2所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述短路檢測裝置具備時刻確定部，所述時刻確定部將從所述半導體元件接收到所述導通信號而經過預先確定的第一期間起到經過預先確定的第二期間為止的期間確定為所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間。

4.一種短路檢測裝置，其特征在于，具備：

電壓檢測電路，其檢測從柵極驅動電路輸入到半導體元件的柵極電壓；

短路檢測電路，其至少在過渡期間的至少一部分，在所述半導體元件的柵極電壓變為第一基準電壓以上時檢測出所述半導體元件的短路狀態，所述過渡期間為從所述柵極驅動電路接收到導通信號起到開始所述半導體元件的米勒平臺為止的期間，

在所述過渡期間后，在所述半導體元件的柵極電壓變為比所述第一基準電壓高的第二基準電壓以上時，所述短路檢測電路檢測出所述半導體元件的短路狀態。

5.根據權利要求4所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述第二基準電壓為米勒電壓以上。

6.根據權利要求4或5所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間為從所述半導體元件的柵極電壓變為柵極閾值電壓以上起到開始所述米勒平臺為止的期間。

7.根據權利要求4或5所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述短路檢測裝置具備時刻確定部，所述時刻確定部將從所述半導體元件接收到所述導通信號而經過預先確定的第一期間起到經過預先確定的第二期間為止的期間確定為所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間。

8.根據權利要求6所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述短路檢測裝置具備時刻確定部，所述時刻確定部將從所述半導體元件接收到所述導通信號而經過預先確定的第一期間起到經過預先確定的第二期間為止的期間確定為所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間。

9.一種短路檢測裝置，其特征在于，具備：

電壓檢測電路，其檢測從柵極驅動電路輸入到半導體元件的柵極電壓；

短路檢測電路，其至少在過渡期間的至少一部分，在所述半導體元件的柵極電壓變為第一基準電壓以上時檢測出所述半導體元件的短路狀態，所述過渡期間為從所述柵極驅動電路接收到導通信號起到開始所述半導體元件的米勒平臺為止的期間，

在整個導通期間，在所述半導體元件的柵極電壓變為比所述第一基準電壓高的第二基準電壓以上時，所述短路檢測電路檢測出所述半導體元件的短路狀態。

10.根據權利要求9所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述第二基準電壓比所述半導體元件的正向偏置電壓大。

11.根據權利要求9或10所述的短路檢測裝置，其特征在于，

所述過渡期間內的所述半導體元件的短路狀態的檢測期間為從所述半導體元件的柵極電壓變為柵極閾值電壓以上起到開始所述米勒平臺為止的期間。