[發(fā)明專利]一種超分辨光盤的徑向伺服裝置及其伺服控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810385410.0
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN110415732B
• 公開（公告）日: 2021-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 阮昊;胡巧;原續(xù)鵬;郭新軍
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機械研究所
• 主分類號: G11B7/085
• 分類號: G11B7/085;G11B7/09
• 代理公司: 上海一平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31266
• 代理人: 姜龍;徐迅

1.一種超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，包括激發(fā)光光源、伺服光光源、整合光路、聚焦單元、伺服光檢測單元、驅(qū)動控制單元；

所述激發(fā)光光源發(fā)出激發(fā)光，所述伺服光光源發(fā)出伺服光，激發(fā)光與伺服光經(jīng)過整合光路到達聚焦單元，被聚焦于光盤盤面，伺服光在盤面經(jīng)過反射后再次經(jīng)過聚焦單元，隨后其反射光被伺服光檢測單元檢測，并將檢測結(jié)果傳遞給驅(qū)動控制單元；

所述的激發(fā)光光源包括至少一束單一波長的激光光源，或不同波長的激光光源；

所述的整合光路至少包括準直透鏡，將伺服光與激發(fā)光整形成共軸圓形平行光束；

所述的聚焦單元至少包括能夠起到聚焦作用的光學(xué)元件，將激發(fā)光與伺服光聚焦到同一軸線上；

所述的伺服光檢測單元，對所述伺服光被所述聚焦單元匯聚并被所述超分辨光盤所具有的伺服引導(dǎo)層反射產(chǎn)生的伺服反射光束進行檢測；

所述的驅(qū)動控制單元，針對伺服光照射光盤所具有的伺服引導(dǎo)層產(chǎn)生的反射光的檢測信號，對應(yīng)于同一個伺服溝槽下方存在的N 條數(shù)據(jù)軌道，預(yù)設(shè)了N個檢測誤差基準值，根據(jù)伺服反射光的檢測結(jié)果與所述檢測誤差基準值的比較結(jié)果，控制所述聚焦單元的徑向位置，N為大于1的整數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述裝置用于超分辨光盤，所述超分辨光盤包括多層結(jié)構(gòu)，包括一層含有螺旋形溝槽狀的伺服引導(dǎo)層，以及其下方存在的至少一層的數(shù)據(jù)記錄層；

所述數(shù)據(jù)記錄層中以螺旋形式分布著數(shù)據(jù)存儲單元，每條螺旋線上的存儲單元構(gòu)成一根數(shù)據(jù)存儲軌道，其中每N條數(shù)據(jù)存儲軌道對應(yīng)于伺服引導(dǎo)層中的一條溝槽，N為大于1的整數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述的超分辨光盤采用包括超分辨熒光顯微技術(shù)、雙光子吸收技術(shù)、超分辨光學(xué)濾波技術(shù)、介質(zhì)超分辨技術(shù)方式產(chǎn)生小于激發(fā)光衍射極限的記錄點。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述的數(shù)據(jù)存儲單元的最小尺寸小于激發(fā)光衍射極限。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述的伺服光光源與所述激發(fā)光光源波長不相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述的聚焦單元的數(shù)值孔徑不小于0.65。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超分辨光盤伺服裝置，其特征在于，所述的超分辨熒光顯微技術(shù)包括受激輻射損耗顯微術(shù)。