[發(fā)明專利]半導體裝置及其控制方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810315647.1
• 申請日: 2018-04-10
• 公開（公告）號: CN108736696A
• 公開（公告）日: 2018-11-02
• 發(fā)明（設計）人: 山田慎吾
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: H02M1/088
• 分類號: H02M1/088;H02M7/48;H02M1/44;H02P27/08;H03K17/16
• 代理公司: 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11219
• 代理人: 李蘭;孫志湧

1.一種半導體裝置，包括：

驅(qū)動電路，所述驅(qū)動電路驅(qū)動開關元件的控制端子；

檢測電路，所述檢測電路在切換所述開關元件接通或斷開時檢測輸出信號中的噪聲；以及

控制電路，所述控制電路基于檢測到的所述噪聲來控制所述驅(qū)動電路的驅(qū)動。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體裝置，其中所述檢測電路選擇自所述開關元件接通或斷開起的給定時段作為檢測所述噪聲的檢測時段。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體裝置，其中所述檢測電路依據(jù)輸入到所述檢測電路的檢測觸發(fā)信號來選擇所述檢測時段。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體裝置，其中所述檢測電路在所述檢測時段期間檢測所述輸出信號中的噪聲分量的平均值。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體裝置，其中所述檢測電路包括：

檢測時段選擇電路，所述檢測時段選擇電路選擇所述檢測時段；

高通濾波器，所述高通濾波器允許所述輸出信號中的高頻分量在選擇的所述檢測時段期間通過所述高通濾波器；以及

轉(zhuǎn)換器，所述轉(zhuǎn)換器將通過所述高通濾波器的高頻分量信號轉(zhuǎn)換成DC分量信號。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體裝置，其中所述控制電路基于檢測到的所述噪聲與基線值之間的差來控制所述驅(qū)動電路的驅(qū)動。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導體裝置，其中所述控制電路包括：

存儲單元，所述存儲單元存儲所述基線值；以及

比較單元，所述比較單元對檢測到的所述噪聲與存儲的所述基線值進行比較。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體裝置，其中所述驅(qū)動電路根據(jù)所述控制電路的控制來調(diào)節(jié)所述輸出信號的上升或下降梯度。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導體裝置，其中所述驅(qū)動電路根據(jù)所述控制電路的控制來調(diào)節(jié)驅(qū)動所述控制端子的驅(qū)動電流。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導體裝置，其中所述驅(qū)動電路包括：

多個電流源，所述多個電流源向所述控制端子提供驅(qū)動電流；以及

選擇電路，所述選擇電路根據(jù)所述控制電路的控制來選擇向所述控制端子提供驅(qū)動電流的所述電流源的子集。

11.一種半導體裝置，包括：

高側(cè)驅(qū)動電路，所述高側(cè)驅(qū)動電路驅(qū)動高側(cè)開關元件的控制端子；

低側(cè)驅(qū)動電路，所述低側(cè)驅(qū)動電路驅(qū)動低側(cè)開關元件的控制端子；

檢測電路，所述檢測電路在切換所述高側(cè)開關元件或所述低側(cè)開關元件接通或斷開時檢測輸出信號中的噪聲；以及

控制電路，所述控制電路基于檢測到的所述噪聲來控制所述高側(cè)驅(qū)動電路和所述低側(cè)驅(qū)動電路的驅(qū)動。

12.一種半導體裝置的控制方法，所述半導體裝置具有驅(qū)動開關器件的控制端子的驅(qū)動電路，所述控制方法包括：

當切換所述開關元件接通或斷開時檢測輸出信號中的噪聲；以及

基于檢測到的所述噪聲，控制所述驅(qū)動電路的驅(qū)動。