[發(fā)明專利]多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路及實(shí)現(xiàn)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810313806.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108680820B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張俊亭;蔡曉東;徐澤鋒;瞿詩(shī)霞;夏寧;宋楠;丁一寧;王玉寶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海空間電源研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/66 | 分類號(hào): | G01R31/66 |
| 代理公司: | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
| 地址: | 200245 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 航天器 串聯(lián) 狀態(tài) 檢測(cè) 電路 實(shí)現(xiàn) 方法 | ||
1.一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路,其特征在于,當(dāng)航天器1與航天器2觸點(diǎn)未相連時(shí),電阻R1、R2并聯(lián)后與電阻R3串聯(lián),當(dāng)航天器1與航天器2觸點(diǎn)相連時(shí),電阻R1斷開(kāi),電阻R2與電阻R3串聯(lián),電阻R3接地。
2.一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,采用如權(quán)利要求1所述的一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路,通過(guò)檢測(cè)電阻R3處的狀態(tài)輸出電壓P,判斷航天器1和航天器2的串聯(lián)狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,當(dāng)只有航天器1有母線電壓V1、航天器2無(wú)母線電壓即V2=0時(shí),航天器2觸點(diǎn)A與航天器1觸點(diǎn)B未相連,則狀態(tài)輸出電壓P為P0,P0=0V,表征航天器1和航天器2未串聯(lián);若觸點(diǎn)A與觸點(diǎn)B相連,電阻R1斷開(kāi),航天器2接受航天器1供電,則狀態(tài)輸出電壓P為P1,P1=V1×R3/(R2+R3),表征航天器1和航天器2實(shí)現(xiàn)串聯(lián)。
4.如權(quán)利要求3所述的一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,當(dāng)航天器1有母線電壓V1、航天器2有母線電壓V2時(shí),觸點(diǎn)A與觸點(diǎn)B未相連,則狀態(tài)輸出電壓P為P2,P2=V2×(R1+R2)×R3/(R1×R2+R1×R3+R2×R3),表征航天器1和航天2未串聯(lián);若觸點(diǎn)A與觸點(diǎn)B相連,觸點(diǎn)A電壓為V1與V2中的較大值,則狀態(tài)輸出電壓P為P3,P3=max(V1,V2)×R3/(R2+R3),表征航天器1和航天器2實(shí)現(xiàn)串聯(lián)。
5.如權(quán)利要求4所述的一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,當(dāng)只有航天器2有母線電壓V2時(shí),觸點(diǎn)A與B未相連,則狀態(tài)輸出電壓P為P4,P4=V2×(R1+R2)×R3/(R1×R2+R1×R3+R2×R3),表征航天器1與航天2未串聯(lián);若觸點(diǎn)A與觸點(diǎn)B相連,航天器1與航天器2的電壓均為V2,則狀態(tài)輸出電壓P為P5,P5=V2×R3/(R2+R3),表征航天器1和航天器2實(shí)現(xiàn)串聯(lián)。
6.如權(quán)利要求5所述的一種多航天器串聯(lián)狀態(tài)檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,確定航天器1母線電壓V1和航天器2母線電壓V2的大小;
步驟2,選擇電阻R1、R2、R3的阻值,使{P0、P2}與{P1、P5}無(wú)公共元素,且min(P1、P5)-P0與P2-max(P1、P5)大于1V,使?fàn)顟B(tài)輸出電壓P在不同狀態(tài)切換過(guò)程中死區(qū)電壓大于0.5V,保證狀態(tài)輸出電壓P的正確性。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 狀態(tài)檢測(cè)裝置及狀態(tài)檢測(cè)方法
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