[發明專利]用于樣本表征的改進的光譜設備和方法

有效

• 申請號: 201810305566.3
• 申請日: 2018-04-08
• 公開（公告）號: CN108760648B
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: A·拉博德;A·布爾多;A·布朗熱
• 申請（專利權）人: 格林特羅皮斯姆公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/31;G01N21/3563
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉瑜;王英

本發明涉及用于表征樣本(S)的表征設備(50)，該設備包括：?存儲器(MEM)，其存儲穿過半透明材料執行的所述樣本的測量的光譜(A_s+p)和所述半透明材料的測量的光譜(A_p)；?處理單元(PU)，其被配置為：*確定穿過所述半透明材料(A_s+p)的所述樣本的所述測量的光譜(A_s+p)的光譜能量(E_s+p)；*根據所述光譜能量(E_s+p)來估計系數以及*根據穿過所述半透明材料的所述樣本的所述測量的光譜(A_s+p)以及所述半透明材料的校正的光譜來確定所述樣本的校正的光譜所述半透明材料的所述校正的光譜是根據所述半透明材料的所述測量的光譜(A_p)以及估計的系數來確定的。

技術領域

本發明一般涉及通過光譜測定法來對樣本進行表征的領域。具體而言，本發明涉及一種用于根據穿過諸如透明包裝之類的半透明材料執行的樣本的初始測量的光譜來確定樣本的校正的光譜的設備和方法。然后能夠將校正的光譜引入表征模型以對樣本執行分類或量化操作。

背景技術

在光譜學的框架中，并且更具體地在紅外(IR)光譜學的框架中，如圖1所示，在反射樣本S的情況下，對于特定范圍[λ1；λ2]內的多個波長，樣本的光學特性通過測量樣本S上入射的強度I0以由及樣本透射或反射的強度I來確定。光與樣本之間的交互準許對樣本進行表征。

不同的波長由光源LS生成，并且在檢測器D上測量反射(或透射)強度。處理單元PU計算與信號相對應的光譜Ss(λ)，取決于λ，根據I與I0之間的比率或其倒數確定。

術語光譜描述了不同類型的信號，例如：

在透射中，樣本的透射率定義為：

T(λ)＝It(λ)/I0(λ)，其中，It為透射強度。

在反射中，樣本的反射率定義為：

R(λ)＝I_R(λ)/I0(λ)，其中，I_R是反射強度。

反射不透明度O_R(λ)定義為1/R，并且透射不透明度O_t(λ)定義為1/T。

吸光度As(λ)定義為：

對于反射：As_/R(λ)＝log₁₀[I0(λ)/I_R(λ)]

對于透射：As_/t(λ)＝log₁₀[I0(λ)/I_t(λ)] (1)

物理量定義為：

對于反射：As_/R'(λ)＝log₁₀[I_R(λ)/I0(λ)]

對于透射：As_/t'(λ)＝log₁₀[I_t(λ)/I0(λ)] (2)

還可以用作光譜。

在光譜學中，在透射(I(λ)＝It(λ))或反射(I(λ)＝I_R(λ))配置兩者中，使用吸光度log₁₀[I0(λ)/I(λ)]或log₁₀[I(λ)/I0(λ)]，其優點是乘法關系被轉換為加法或減法關系。

然后，測量的光譜Ss(λ)用作表征模型CM的輸入，以便例如對樣本進行分類或者對樣本的特定化合物進行量化。