[發明專利]可調節的物理不可克隆函數

有效

• 申請號: 201810297044.3
• 申請日: 2018-04-04
• 公開（公告）號: CN108696350B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: O.維勒斯
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: H04L9/08
• 分類號: H04L9/08
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 胡莉莉;申屠偉進

1.一種由作為物理不可克隆函數的微機電系統（11a、12a）以及可控制的調節環節（11b、12b）構成的裝置（11、12），作為對挑戰的反應，所述微機電系統按照映射規則來輸出應答，所述調節環節被設立為：按照控制指令來調節影響所述映射規則的周圍環境參數，以改變所述映射規則，以便生成對于同一挑戰的不同的應答，使得不同的密碼密鑰被生成，或者以便破壞所述微機電系統。

2.根據權利要求1所述的裝置，所述裝置布置在外殼（11d、12d）中。

3.根據權利要求2所述的裝置，其中所述外殼（11d、12d）由陶瓷材料形成。

4.根據權利要求1至3之一所述的裝置，所述裝置具有測量環節（11c、12c），用于測量影響所述映射規則的周圍環境參數。

5.根據權利要求1至3之一所述的裝置，其中影響所述映射規則的周圍環境參數是周圍環境溫度和/或周圍環境壓強。

6.根據權利要求1至3之一所述的裝置，其中所述調節環節（11b、12b）具有加熱和/或冷卻元件。

7.一種組件（10），其具有多個根據上述權利要求之一所述的裝置（11、12）。

8.一種由控制單元（2）和至少一個根據權利要求1至6之一所述的裝置（11、12）構成的系統（1），所述控制單元被設立為生成針對調節環節（11b、12b）的控制指令。

9.根據權利要求8所述的系統（1），其中所述控制單元（2）被設立為調節周圍環境參數。

10.根據權利要求8或9所述的系統（1），其中所述控制單元（2）被設立為：給所述裝置（11、12）加載挑戰并且檢測所述裝置（11、12）的應答。