[發(fā)明專利]一種基于對(duì)消技術(shù)的微波部件弱無源互調(diào)測試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810282046.5
• 申請(qǐng)日: 2018-04-02
• 公開（公告）號(hào): CN108650031B
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝擁軍;武東偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航空航天大學(xué)
• 主分類號(hào): H04B17/00
• 分類號(hào): H04B17/00
• 代理公司: 北京慕達(dá)星云知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11465
• 代理人: 崔自京

1.一種基于對(duì)消技術(shù)的微波部件弱無源互調(diào)測試系統(tǒng)，包含無源互調(diào)測試電路與顯示部分，其特征在于，還包括載波對(duì)消電路部分，其中，所述載波對(duì)消電路部分用于對(duì)信號(hào)源雜散中的待測互調(diào)頻率成分消除，所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分用于對(duì)所述載波對(duì)消電路部分輸出的信號(hào)進(jìn)行測試和顯示；

所述載波對(duì)消電路部分包括第一大功率頻綜信號(hào)源、第二大功率頻綜信號(hào)源、對(duì)消模塊、第一定向耦合器、第二定向耦合器、第一功率計(jì)和第二功率計(jì)；所述第一大功率頻綜信號(hào)源和所述第二大功率頻綜信號(hào)源經(jīng)由對(duì)消模塊分別連接第一定向耦合器和第二定向耦合器；所述第一定向耦合器和所述第二定向耦合器的輸出端均與所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分連接；所述第一功率計(jì)和第二功率計(jì)分別與第一定向耦合器和第二定向耦合器連接；

所述對(duì)消模塊包括第一功分器、第二功分器、第一延時(shí)線、第二延時(shí)線、低互調(diào)電纜、第一合路器、第二合路器；所述第一功分器的輸入端與所述第一大功率頻綜信號(hào)源連接，所述第一功分器的輸出端分兩路，第一路通過所述低互調(diào)電纜連接所述第一合路器，第二路通過所述第一延時(shí)線連接所述第一合路器，所述第一合路器的輸出端連接所述第一定向耦合器的輸入端；所述第二功分器的輸入端與所述第二大功率頻綜信號(hào)源連接，所述第二功分器的輸出端分兩路，第一路通過所述低互調(diào)電纜連接所述第二合路器，第二路通過所述第二延時(shí)線連接所述第二合路器，所述第二合路器的輸出端連接所述第二定向耦合器的輸入端；

所述第一大功率頻綜信號(hào)源和所述第二大功率頻綜信號(hào)源輸出的信號(hào)通過所述對(duì)消模塊進(jìn)行對(duì)消；

且所述第一延時(shí)線和所述第二延時(shí)線的長度滿足：所述第一延時(shí)線的長度與互調(diào)頻點(diǎn)波長的比值大于等于3.5，所述第二延時(shí)線的長度與互調(diào)頻點(diǎn)波長的比值大于等于3.5，所述對(duì)消模塊的載波功率損失小于-3dB。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分為反射式。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分包括頻率合成器、雙工器、被測件、低互調(diào)負(fù)載和頻譜儀；所述頻率合成器的兩個(gè)輸入端分別與所述第一定向耦合器的輸出端和所述第二定向耦合器輸出端連接，所述頻率合成器的輸出端通過所述雙工器與所述被測件連接，所述被測件的另一端連接所述低互調(diào)負(fù)載，所述雙工器的第三端連接所述頻譜儀。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分為輻射式。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述無源互調(diào)測試電路與顯示部分包括頻率合成器、雙工器、被測件、屏蔽吸波室、接收探頭、低PIM帶通濾波器、低噪放大器和頻譜儀；所述頻率合成器的兩個(gè)輸入端分別與所述第一定向耦合器的輸出端和所述第二定向耦合器輸出端連接，所述頻率合成器的輸出端通過所述雙工器與所述被測件連接，所述接收探頭設(shè)置在所述被測件的另一端，所述被測件和所述接收探頭設(shè)置在所述屏蔽吸波室內(nèi)，所述接收探頭依次與所述低PIM帶通濾波器、所述低噪放大器和所述頻譜儀連接。

6.一種基于對(duì)消技術(shù)的微波部件弱無源互調(diào)測試方法，其特征在于，在測試前通過引入對(duì)消模塊對(duì)信號(hào)源雜散中的待測互調(diào)頻率成分消除，從而實(shí)現(xiàn)弱無源互調(diào)測試；所述對(duì)消模塊包括第一功分器、第二功分器、第一延時(shí)線、第二延時(shí)線、低互調(diào)電纜、第一合路器、第二合路器；所述第一功分器的輸入端與第一大功率頻綜信號(hào)源連接，所述第一功分器的輸出端分兩路，第一路通過所述低互調(diào)電纜連接所述第一合路器，第二路通過所述第一延時(shí)線連接所述第一合路器；所述第二功分器的輸入端與第二大功率頻綜信號(hào)源連接，所述第二功分器的輸出端分兩路，第一路通過所述低互調(diào)電纜連接所述第二合路器，第二路通過所述第二延時(shí)線連接所述第二合路器，具體包括以下步驟：

S1：將第一大功率頻綜信號(hào)源和第二大功率頻綜信號(hào)源輸出的信號(hào)通過所述對(duì)消模塊進(jìn)行對(duì)消；

S2：調(diào)整所述第一延時(shí)線和所述第二延時(shí)線的長度，滿足：所述第一延時(shí)線的長度與互調(diào)頻點(diǎn)波長的比值大于等于3.5，所述第二延時(shí)線的長度與互調(diào)頻點(diǎn)波長的比值大于等于3.5，所述對(duì)消模塊的載波功率損失小于-3dB。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，還包括以下步驟：

S3：對(duì)所述對(duì)消模塊輸出的信號(hào)進(jìn)行反射式弱PIM測試或輻射式弱PIM測試。