[發明專利]雙面水準尺

在審

• 申請號: 201810272151.0
• 申請日: 2018-03-29
• 公開（公告）號: CN108267117A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 羅新偉;楊政;方文;胡寶良;黃小兵;孫士欣
• 申請（專利權）人: 北京恒華偉業科技股份有限公司
• 主分類號: G01C5/00
• 分類號: G01C5/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李海建

本發明提供了一種雙面水準尺，包括尺體，尺體包括沿其長度方向布置的第一條碼水準面和第二條碼水準面，第一條碼水準面和第二條碼水準面分別位于尺體寬度方向的兩側。尺體可分別通過沿其長度方向布置第一條碼水準面和第二條碼水準面，同時進行兩次高度測量，第一條碼水準面和第二條碼水準面位于尺體寬度方向的兩側，可同時獲得兩組測量數據，增加觀測次數，通過對兩組高度測量結果的處理，提高觀測精度，避免誤差積累，提高測量準確性。

技術領域

本發明涉及工程測量技術領域，更具體地說，涉及一種雙面水準尺。

背景技術

水準測量又名幾何水準測量，是用水準儀和水準尺測定地面上兩點間高差的方法。在地面兩點間安置水準儀，觀測豎立在兩點上的水準標尺，按尺上讀數推算兩點間的高差。通常由水準原點或任一已知高程點出發，沿選定的水準路線逐站測定各點的高程。

傳統的二等水準測量或更高等級的水準測量工作中，往往存在高差閉合差超限的問題，無法滿足工程的需要，對此通常采用重測該水準路線的方法，這不僅費時費力，還面臨工作成本的提高。

因此，如何提高水準測量工作的測量準確性，是目前本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種雙面水準尺，以提高水準測量工作的測量準確性。

為了達到上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種雙面水準尺，包括尺體，所述尺體包括沿其長度方向布置的第一條碼水準面和第二條碼水準面，所述第一條碼水準面和所述第二條碼水準面分別位于所述尺體寬度方向的兩側。

優選地，在上述雙面水準尺中，所述尺體為三棱柱結構的尺體，所述第一條碼水平面和所述第二條碼水準面分別位于三棱柱結構所述尺體的棱面上。

優選地，在上述雙面水準尺中，所述第一條碼水準面和所述第二條碼水準面的結構相同。

優選地，在上述雙面水準尺中，三棱柱結構所述尺體的背面設置有對所述尺體的豎直度進行調整的氣泡水平尺。

優選地，在上述雙面水準尺中，所述尺體上還設置有沿其長度方向伸出，對其測量方向進行轉動調整的旋轉軸。

優選地，在上述雙面水準尺中，所述尺體的底部設置有架撐所述旋轉軸的轉動支座。

優選地，在上述雙面水準尺中，三棱柱結構的所述尺體的中部開設有沿其長度方向布置的通孔，所述旋轉軸架裝于所述通孔內。

本發明提供的雙面水準尺，包括尺體，尺體包括沿其長度方向布置的第一條碼水準面和第二條碼水準面，第一條碼水準面和第二條碼水準面分別位于尺體寬度方向的兩側。尺體可分別通過沿其長度方向布置第一條碼水準面和第二條碼水準面，同時進行兩次高度測量，第一條碼水準面和第二條碼水準面位于尺體寬度方向的兩側，可同時獲得兩組測量數據，增加觀測次數，通過對兩組高度測量結果的處理，提高觀測精度，避免誤差積累，提高測量準確性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明提供的雙面水準尺的結構示意圖；

圖2為圖1的橫截面結構示意圖。

具體實施方式

本發明公開了一種雙面水準尺，提高了水準測量工作的測量準確性。