[發明專利]在電子地圖上繪制分子式注記的方法及裝置有效
| 申請號: | 201810254098.1 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108509570B | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發明(設計)人: | 于國華;張發勇;李田;鄭朝軍 | 申請(專利權)人: | 武漢智博創享科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F16/29 | 分類號: | G06F16/29;G09B29/00 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228 | 代理人: | 程殿軍 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市東湖新技術開發區*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子地圖 繪制 分子式 方法 裝置 | ||
1.一種在電子地圖上繪制分子式注記的方法,其特征在于,包括以下步驟:
獲取電子地圖上需要繪制注記的位置坐標,并將該位置坐標轉換為像素坐標(x,y);
將注記需要顯示的兩個屬性字段值分別作為分子式的分子和分母,測量分子式中分子和分母字符的長度,并轉換為屏幕像素距離;
測量分子式中分母字符的高度,并轉換為屏幕像素距離;
計算分式線的長度,獲取分子和分母中屏幕像素長度較長的一個,將其長度或者其長度加上一個固定值作為分式線的長度;
計算分子字符、分式線以及分母字符繪制的位置;
依次將分子、分式線、分母繪制到電子地圖相應位置上,形成一個完整的分子式注記,
其中,計算分子字符繪制的位置的具體方法為:分子字符繪制位置的原點參數值為繪制注記位置點x坐標減去分子字符像素長度的一半,基線參數值為繪制注記位置點y坐標減去一個自定義的固定像素值,
計算分式線繪制的位置的具體方法為:分式線繪制位置包括起點和終點,起點坐標X值為繪制注記位置點x坐標減去分式線像素長度的一半,起點坐標Y值為繪制注記位置點y坐標;終點坐標X值為繪制注記位置點x坐標加上分式線像素長度的一半,終點坐標Y值為繪制位置點y坐標,
計算分母字符繪制的位置的具體方法為:分母字符繪制位置的原點參數值為繪制注記位置點x坐標減去分母字符像素長度的一半,基線參數值為繪制位置點y坐標加上分母字符的高度像素值,再加上一個自定義的固定像素值,
所述測量分子式中分子和分母字符的長度之前還包括:智能確定分子和分母字符顯示內容,具體為:設定分子或分母顯示內容字符長度的指定閾值α,當分子或分母的字符長度小于等于該閾值時,分子或分母顯示全部字符;當分子或分母的字符長度大于該閾值時,對分子或分母字符進行智能截取,截取原則是分子或分母保留從第0位字符到第α-3位字符的長度,結尾增加“...”號。
2.一種在電子地圖上繪制分子式注記的裝置,其特征在于,包括:
繪制注記位置坐標獲取模塊,用于獲取電子地圖上需要繪制注記的位置坐標,并將該位置坐標轉換為像素坐標(x,y);
分子和分母字符長度測量模塊,用于將注記需要顯示的兩個屬性字段值分別作為分子式的分子和分母,測量分子式中分子和分母字符的長度,并轉換為屏幕像素距離;
分母字符的高度測量模塊,用于測量分子式中分母字符的高度,并轉換為屏幕像素距離;
分式線長度計算模塊,用于計算分式線的長度,具體為獲取分子和分母中屏幕像素長度較長的一個,將其長度或者其長度加上一個固定值作為分式線的長度;
繪制位置計算模塊,用于計算分子字符、分式線以及分母字符繪制的位置;
分子式注記繪制模塊,用于依次將分子、分式線、分母繪制到電子地圖相應位置上,形成一個完整的分子式注記,
其中,所述繪制位置計算模塊采用以下方式計算分子字符繪制的位置:分子字符繪制位置的原點參數值為繪制注記位置點x坐標減去分子字符像素長度的一半,基線參數值為繪制注記位置點y坐標減去一個自定義的固定像素值,
所述繪制位置計算模塊采用以下方式計算分式線繪制的位置:分式線繪制位置包括起點和終點,起點坐標X值為繪制注記位置點x坐標減去分式線像素長度的一半,起點坐標Y值為繪制注記位置點y坐標;終點坐標X值為繪制注記位置點x坐標加上分式線像素長度的一半,終點坐標Y值為繪制位置點y坐標,
所述繪制位置計算模塊采用以下方式計算分母字符繪制的位置:分母字符繪制位置的原點參數值為繪制注記位置點x坐標減去分母字符像素長度的一半,基線參數值為繪制位置點y坐標加上分母字符的高度像素值,再加上一個自定義的固定像素值,
所述分子和分母字符長度測量模塊在測量分子式中分子和分母字符的長度之前,還用于智能確定分子和分母字符顯示內容,具體為:設定分子或分母顯示內容字符長度的指定閾值α,當分子或分母的字符長度小于等于該閾值時,分子或分母顯示全部字符;當分子或分母的字符長度大于該閾值時,對分子或分母字符進行智能截取,截取原則是分子或分母保留從第0位字符到第α-3位字符的長度,結尾增加“...”號。
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