[發(fā)明專利]修復(fù)函數(shù)缺陷的方法、裝置及服務(wù)器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810210229.6
• 申請日: 2018-03-14
• 公開（公告）號: CN108415840A
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 夏良釗;鄭龍日;胡明;包沉浮;韋韜
• 申請（專利權(quán)）人: 百度在線網(wǎng)絡(luò)技術(shù)（北京）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京市鑄成律師事務(wù)所 11313
• 代理人: 王珺;徐瑞紅

1.一種修復(fù)函數(shù)缺陷的方法，適用于該函數(shù)的多個版本，其特征在于，所述方法包括：

確定預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)；

檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)是否存在異常；

若存在異常，則向所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的上層調(diào)用函數(shù)返回指示異常的信息；

若不存在異常，則執(zhí)行所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若不存在異常，則執(zhí)行所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)之后，所述方法還包括：

檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的返回值和/或參數(shù)是否存在異常；

若存在異常，則向所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的上層調(diào)用函數(shù)返回指示異常的信息。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)是否存在異常，包括：

根據(jù)內(nèi)聯(lián)掛鉤方法，將所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的預(yù)設(shè)行代碼修改為跳轉(zhuǎn)到調(diào)用修復(fù)函數(shù)的指令；所述修復(fù)函數(shù)用于檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)，以及返回值和/或參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，確定預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)之后，所述方法還包括：

若所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的類型為子函數(shù)，且所述子函數(shù)在其對應(yīng)的父函數(shù)中被多次調(diào)用，則根據(jù)所述父函數(shù)的索引確定所述子函數(shù)在父函數(shù)中的位置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對所述缺陷函數(shù)進(jìn)行修復(fù)之前，所述方法還包括：

初始化修復(fù)函數(shù)，以獲得用于存儲所述修復(fù)函數(shù)的存儲空間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當(dāng)卸載修復(fù)函數(shù)時，釋放用于存儲所述修復(fù)函數(shù)的存儲空間。

7.一種修復(fù)函數(shù)缺陷的方法，適用于該函數(shù)的多個版本，其特征在于，所述方法包括：

確定預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)；

執(zhí)行所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)；

檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的返回值和/或參數(shù)是否存在異常；

若存在異常，則向所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的上層調(diào)用函數(shù)返回指示異常的信息。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的返回值和參數(shù)是否存在異常之前，所述方法還包括：

根據(jù)內(nèi)聯(lián)掛鉤方法，將所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的預(yù)設(shè)行代碼修改為跳轉(zhuǎn)到調(diào)用修復(fù)函數(shù)的指令；其中，所述修復(fù)函數(shù)用于檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)和/或返回值。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，確定預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)之后，所述方法還包括：

若所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的類型為子函數(shù)，且所述子函數(shù)在其對應(yīng)的父函數(shù)中被多次調(diào)用，則根據(jù)所述父函數(shù)的索引確定所述子函數(shù)在父函數(shù)中的位置。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，對所述缺陷函數(shù)進(jìn)行修復(fù)之前，所述方法還包括：

初始化所述修復(fù)函數(shù)，以獲得用于存儲所述修復(fù)函數(shù)的存儲空間。

11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，對所述缺陷函數(shù)進(jìn)行修復(fù)之后，所述方法還包括：

當(dāng)卸載所述修復(fù)函數(shù)時，釋放用于存儲所述數(shù)復(fù)函數(shù)的存儲空間。

12.一種修復(fù)函數(shù)缺陷的裝置，適用于該函數(shù)的多個版本，其特征在于，所述裝置包括：

第一確定位置模塊，配置為確定預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)；

第一檢查模塊，配置為檢查所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)是否存在異常；

第一返回異常模塊，配置為當(dāng)所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)存在異常時，向所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的上層調(diào)用函數(shù)返回指示異常的信息；

執(zhí)行模塊，配置為當(dāng)所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)的參數(shù)不存在異常時，執(zhí)行所述預(yù)設(shè)缺陷函數(shù)。