[發明專利]動態功耗估計方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201810191683.1
• 申請日: 2018-03-08
• 公開（公告）號: CN110245366B
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發明（設計）人: 魏威;周宙;普玉偉
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 肖慶武

1.一種動態功耗估計裝置，其特征在于，所述裝置包括：計數單元和運算單元；

所述計數單元，用于記錄待測目標的n路目標信號中的每路目標信號在單位時間內的統計數值，其中，所述待測目標是一個芯片、一個由兩個或者兩個以上的芯片組成的芯片系統或者一個芯片中的部分電路模塊，所述n路目標信號是待測目標中經過選擇的部分信號，所述目標信號為經過時鐘門控后的時鐘信號，且所述統計數值為翻轉次數，或者，所述目標信號為時鐘門控信號，且所述統計數值為使能周期數；將所述n路目標信號中的每路目標信號在單位時間內的統計數值發送給所述運算單元，所述n為正整數；

所述運算單元，用于按照下述公式計算所述待測目標在單位時間內的動態功耗p：

其中，k_i表示所述n路目標信號中的第i路目標信號在單位時間內的統計數值，a_i表示所述第i路目標信號對應的權重系數，ε為誤差項，1≤i≤n且i為整數。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：存儲單元；

所述存儲單元，用于存儲所述n路目標信號中的每路目標信號各自對應的權重系數。

3.根據權利要求1或2任一項所述的裝置，其特征在于，所述計數單元包括：n個計數器；

所述n個計數器中的每一個計數器，用于對一路目標信號在單位時間內的統計數值進行計數。

4.根據權利要求1或2任一項所述的裝置，其特征在于，所述待測目標中存在多級時鐘門控；

所述目標信號為經過第一級時鐘門控后的時鐘信號，或者，所述目標信號為第一級時鐘門控信號。

5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述待測目標中存在多級時鐘門控；

所述目標信號為經過第一級時鐘門控后的時鐘信號，或者，所述目標信號為第一級時鐘門控信號。

6.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括如權利要求1至5任一項所述的動態功耗估計裝置。

7.一種動態功耗估計方法，其特征在于，所述方法包括：

記錄待測目標的n路目標信號中的每路目標信號在單位時間內的統計數值，其中，所述待測目標是一個芯片、一個由兩個或者兩個以上的芯片組成的芯片系統或者一個芯片中的部分電路模塊，所述n路目標信號是待測目標中經過選擇的部分信號，所述目標信號為經過時鐘門控后的時鐘信號，且所述統計數值為翻轉次數，或者，所述目標信號為時鐘門控信號，且所述統計數值為使能周期數，所述n為正整數；

按照下述公式計算所述待測目標在單位時間內的動態功耗p：

其中，k_i表示所述n路目標信號中的第i路目標信號在單位時間內的統計數值，a_i表示所述第i路目標信號對應的權重系數，ε為誤差項，1≤i≤n且i為整數。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述公式采用下述方法得到：

獲取j個測試功耗片段，所述j個 測試功耗片段中的每個測試功耗片段包括：所述待測目標的n路目標信號中的每路目標信號在單位時間內的統計數值K_j，以及所述待測目標在單位時間內的動態功耗p_j，所述j為正整數；

采用線性回歸對所述j個測試功耗片段中的所述K_j和所述p_j進行擬合；

根據擬合結果確定所述公式。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述獲取j個測試功耗片段，包括：

構建電子設計自動化EDA仿真環境，所述EDA仿真環境中包括：所述待測目標的寄存器轉換級電路RTL和智能溫度調度ITS模塊的RTL，其中，所述待測目標的RTL用于仿真所述待測目標中除所述ITS模塊以外的其它功能，所述ITS模塊的RTL用于仿真所述ITS模塊的功能，所述ITS模塊用于實現動態功耗估計；

在所述EDA仿真環境中執行j個測試用例，得到所述j個測試功耗片段。