[發(fā)明專利]一種頻率器件性能評估的方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810154547.5 | 申請日： | 2018-02-23 |
| 公開（公告）號： | CN110187198B | 公開（公告）日： | 2022-04-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 穆海明 | 申請（專利權(quán)）人： | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;馮建基 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 頻率 器件 性能 評估 方法 裝置 | ||
1.一種頻率器件性能評估的方法，包括：
在設(shè)置的測試時間段內(nèi)通過對頻率器件的頻偏進(jìn)行采集，得到所述頻率器件的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集；
利用所得到的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集，計算出所述頻率器件的包含相位保持信息和/或時間保持信息的保持性能信息；
根據(jù)所計算出的包含相位保持信息和/或時間保持信息的保持性能信息，用概率密度的方法對所述頻率器件的性能進(jìn)行評估；
其中，計算相位保持信息包括：計算所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中每一個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力；根據(jù)全部采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力，計算所述頻率器件的相位保持信息；
其中，計算時間保持信息包括：計算所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中每一個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力；根據(jù)全部采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力，計算所述頻率器件的時間保持信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，當(dāng)保持性能信息為相位保持信息時，所述利用所得到的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集，計算出所述頻率器件的保持性能信息包括：
根據(jù)所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中的第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)及隨后K+1個采樣頻偏數(shù)據(jù)和采樣時間點數(shù)據(jù)集中的第N個采樣時間數(shù)據(jù)及隨后K+1個采樣時間點數(shù)據(jù)，得到所述第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力；
利用所得到的所述每個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力，計算所述頻率器件的相位保持信息；
其中，所述N和K均為正整數(shù)，其K為預(yù)設(shè)時間內(nèi)的采樣個數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，當(dāng)保持性能信息為時間保持信息時，所述利用所得到的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集，計算出所述頻率器件的保持性能信息包括：
根據(jù)所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中的第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)及隨后x+1個采樣頻偏數(shù)據(jù)和采樣時間點數(shù)據(jù)集中的第N個采樣時間數(shù)據(jù)及隨后x+1個采樣時間點數(shù)據(jù)，得到所述第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力；
利用所得到的所述每個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力，計算所述頻率器件的時間保持信息；
其中，所述N和x均為正整數(shù)，其x為累積相位波動達(dá)到預(yù)定值時的采樣個數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，當(dāng)保持性能信息為相位保持信息和時間保持信息時，所述利用所得到的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集，計算出所述頻率器件的保持性能信息包括：
根據(jù)所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中的第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)及隨后K+1個采樣頻偏數(shù)據(jù)和采樣時間點數(shù)據(jù)集中的第N個采樣時間數(shù)據(jù)及隨后K+1個采樣時間點數(shù)據(jù)，得到所述第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力以及根據(jù)所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中的第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)及隨后x+1個采樣頻偏數(shù)據(jù)和采樣時間點數(shù)據(jù)集中的第N個采樣時間數(shù)據(jù)及隨后x+1個采樣時間點數(shù)據(jù)，得到所述第N個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力；
利用所得到的所述每個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力，計算所述頻率器件的相位保持信息，以及利用所得到的所述每個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力，計算所述頻率器件的時間保持信息；
其中，所述N和K均為正整數(shù)，其K為預(yù)設(shè)時間內(nèi)的采樣個數(shù)，其x為累積相位波動達(dá)到預(yù)定值時的采樣個數(shù)。
5.一種頻率器件性能評估的裝置，包括：
采集模塊，用于在設(shè)置的測試時間段內(nèi)通過對頻率器件的頻偏進(jìn)行采集，得到所述頻率器件的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集；
計算模塊，用于利用所得到的采樣頻偏數(shù)據(jù)集和采樣時間點數(shù)據(jù)集，計算出所述頻率器件的包含相位保持信息和/或時間保持信息的保持性能信息；
評估模塊，用于根據(jù)所計算出的包含相位保持信息和/或時間保持信息的保持性能信息，用概率密度的方法對所述頻率器件的性能進(jìn)行評估；
其中，計算相位保持信息包括：計算所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中每一個采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力；根據(jù)全部采樣頻偏數(shù)據(jù)的相位保持能力，計算所述頻率器件的相位保持信息；
其中，計算時間保持信息包括：計算所述采樣頻偏數(shù)據(jù)集中每一個采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力；根據(jù)全部采樣頻偏數(shù)據(jù)的時間保持能力，計算所述頻率器件的時間保持信息。
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