[發明專利]一種磁共振中心頻率和射頻功率校正掃描序列及方法

有效

• 申請號: 201810154087.6
• 申請日: 2018-02-22
• 公開（公告）號: CN108387856B
• 公開（公告）日: 2019-11-05
• 發明（設計）人: 羅海;朱高杰;周翔;王文周;陳梅濘;王超;劉霞;吳子岳
• 申請（專利權）人: 奧泰醫療系統有限責任公司
• 主分類號: G01R33/565
• 分類號: G01R33/565
• 代理公司: 成都高遠知識產權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 謝一平;曾克

1.一種磁共振中心頻率和射頻功率校正掃描序列，包括：三個射頻脈沖，第一梯度場；所述三個射頻脈沖包括：第一射頻脈沖，第二射頻脈沖，第三射頻脈沖；所述三個射頻脈沖具有相同的發射功率；所述第一射頻脈沖與第二射頻脈沖之間的時間間隔為TE/2，所述第二射頻脈沖和第三射頻脈沖之間的時間間隔為TM，TM>TE/2，其中，TE為回波時間；所述第一梯度場為恒定的梯度場，加載于Z軸方向；在所述第一梯度場下能夠依次采集到第一自旋回波信號和受激回波信號；所述第一梯度場起始于所述第一射頻脈沖開始時或第一射頻脈沖開始前，第一梯度場終止于所述受激回波信號采集完成時；其特征在于，還包括：第二梯度場；所述第二梯度場加載于Z軸方向；所述第二梯度場大于所述第一梯度場；在所述第二梯度場作用下能夠采集到被回聚的第二自旋回波信號；所述第二梯度場起始于所述受激回波信號采集完成時，第二梯度場的終止處滿足以下公式：

B_A＝B_B

其中，B_A為所述第二射頻脈沖后TE/2處到第三射頻脈沖中點的梯度面積，B_B為所述第三射頻脈沖中點到所述第二梯度場的終止處的梯度面積。

2.根據權利要求1所述的磁共振中心頻率和射頻功率校正掃描序列，其特征在于，所述第二射頻脈沖和第三射頻脈沖之間的時間間隔，大于或等于第一射頻脈沖和第二射頻脈沖之間的時間間隔的3倍。

3.一種磁共振中心頻率和射頻功率校正方法，其特征在于，包括：

步驟101，根據預設的發射功率序列設置射頻脈沖的發射功率；

步驟102，使用權利要求1或2所述的磁共振中心頻率和射頻功率校正掃描序列采集數據，依次獲取第一自旋回波信號、受激回波信號、被回聚的第二自旋回波信號的后半個回波；其中，所述第一自旋回波信號的采樣窗口中心位于所述第二射頻脈沖的后TE/2處；所述受激回波信號的采樣窗口中心位于所述第三射頻脈沖的后TE/2處；所述被回聚的第二自旋回波信號的采樣窗口起點位于所述第三射頻脈沖后TM-TE/2處；

步驟103，根據所述第一自旋回波信號和受激回波信號，計算出所述發射功率對應的翻轉角；根據所述被回聚的第二自旋回波信號的后半個回波，計算出中心頻率；

重復步驟101～步驟103，直到預定的掃描周期結束，獲取翻轉角序列和中心頻率序列；

步驟104，根據所述預設的發射功率序列和所述翻轉角序列，獲取校正后的射頻功率；根據所述中心頻率序列獲取校正后的中心頻率；

所述根據所述第一自旋回波信號和受激回波信號，計算出所述發射功率對應的翻轉角的方法為：

其中，S1為所述第一自旋回波信號，S2為所述受激回波信號；

所述根據所述被回聚的第二自旋回波信號的后半個回波，計算出中心頻率的方法為：將被回聚的第二自旋回波信號的后半個回波進行傅里葉變換得到頻譜，通過計算水峰信號與零頻率基線的偏差調整中心頻率，得到新的中心頻率；

所述根據所述預設的發射功率序列和所述翻轉角序列，獲取校正后的射頻功率的方法為：將所述預設的發射功率序列和所述翻轉角序列通過最小二乘擬合，獲取校正后的射頻功率；

所述根據所述中心頻率序列獲取校正后的中心頻率的方法為：計算所述中心頻率序列的平均數，獲取校正后的中心頻率。