[發明專利]一種磁共振參數成像方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201810145370.2
• 申請日: 2018-02-12
• 公開（公告）號: CN110146836B
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 劉元元;朱燕杰;梁棟;程靜;劉新;鄭海榮
• 申請（專利權）人: 深圳先進技術研究院
• 主分類號: G01R33/56
• 分類號: G01R33/56;A61B5/055
• 代理公司: 深圳智趣知識產權代理事務所(普通合伙) 44486
• 代理人: 王策

1.一種磁共振參數成像方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟：

對預設參數方向下預設觀測目標的待重建圖像進行加速采樣，獲得所述待重建圖像對應的K空間數據；

根據所述K空間數據和預設的參數弛豫模型，計算所述待重建圖像的參數值和補償系數；

根據所述補償系數生成所述待重建圖像對應的補償圖像，根據所述補償圖像分別計算所述待重建圖像低秩部分、稀疏部分的參數值；

根據所述低秩部分、稀疏部分的參數值，更新所述補償系數，并根據更新后的所述補償系數對所述待重建圖像進行更新；

判斷所述待重建圖像的更新是否收斂，是則根據所述參數弛豫模型和更新后的所述待重建圖像，擬合得到所述觀測目標的參數圖并輸出，否則根據所述參數弛豫模型計算更新后的所述待重建圖像的參數值和補償系數，并跳轉到根據所述補償系數生成所述待重建圖像對應的補償圖像的步驟；

其中，對預設參數方向下預設觀測目標的待重建圖像進行加速采樣的步驟，包括：

在所述參數方向下，對所述觀測目標進行頻率編碼方向上全采、相位編碼方向上變密度采樣，獲得預設數量個所述待重建圖像的K空間數據。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述K空間數據和預設的參數弛豫模型，計算所述待重建圖像的參數值和補償系數的步驟，包括：

將所述K空間數據中心的全采部分轉換至圖像域，獲得所述K空間數據中心的全采部分對應的圖像；

根據所述全采部分對應的圖像和所述參數弛豫模型，擬合得到所述待重建圖像的參數值，根據所述待重建圖像的參數值計算所述補償系數。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述補償系數生成所述待重建圖像對應的補償圖像，根據所述補償圖像分別計算所述待重建圖像低秩部分、稀疏部分的參數值的步驟，包括：

根據所述補償系數對所述待重建圖像的每個像素進行補償，生成所述待重建圖像對應的補償圖像；

通過所述補償圖像和預設的奇異值閾值操作算子，計算所述待重建圖像的低秩部分；

通過所述補償系數、所述低秩部分、以及所述參數弛豫模型，計算所述低秩部分的參數值；

通過所述低秩部分的參數值、所述待重建圖像的參數值、以及預設的軟閾值操作算子，計算所述待重建圖像稀疏部分的參數值。

4.如權利于要求1所述的方法，其特征在于，根據所述低秩部分、稀疏部分的參數值，更新所述補償系數，并根據更新后的所述補償系數對所述待重建圖像進行更新的步驟，包括：

根據所述低秩部分、稀疏部分的參數值，對所述補償系數進行更新：

根據更新后的所述補償系數、所述補償圖像，計算所述待重建圖像對應的回帶圖像；

根據所述待重建圖像對應的回帶圖像，對所述待重建圖像進行更新。

5.一種磁共振參數成像裝置，其特征在于，所述裝置包括：

加速采樣單元，用于對預設參數方向下預設觀測目標的待重建圖像進行加速采樣，獲得所述待重建圖像對應的K空間數據；

系數計算單元，用于根據所述K空間數據和預設的參數弛豫模型，計算所述待重建圖像的參數值和補償系數；

圖像補償單元，用于根據所述補償系數生成所述待重建圖像對應的補償圖像，根據所述補償圖像分別計算所述待重建圖像低秩部分、稀疏部分的參數圖；

圖像更新單元，用于根據所述低秩部分、稀疏部分的參數值，更新所述補償系數，并根據更新后的所述補償系數對所述待重建圖像進行更新；以及

收斂判斷單元，用于判斷所述待重建圖像的更新是否收斂，是則根據所述參數弛豫模型和更新后的所述待重建圖像，擬合得到所述觀測目標的參數圖并輸出，否則根據所述參數弛豫模型計算更新后的所述待重建圖像的參數值和補償系數，并觸發所述圖像補償單元執行根據所述補償系數生成所述待重建圖像對應的補償圖像的步驟；

其中，所述加速采樣單元包括：

變密度采樣單元，用于在所述參數方向下，對所述觀測目標進行頻率編碼方向上全采、相位編碼方向上變密度采樣，獲得預設數量個所述待重建圖像的K空間數據。