[發明專利]低導電性零件的泄漏測試方法在審
| 申請號： | 201810127315.0 | 申請日： | 2018-02-08 |
| 公開（公告）號： | CN108445339A | 公開（公告）日： | 2018-08-24 |
| 發明（設計）人： | E·P·卡爾德隆;R·M·布里斯班;H·K·福萊姆 | 申請（專利權）人： | 通用汽車環球科技運作有限責任公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人： | 薛建強 |
| 地址： | 美國密*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電阻 流體通道 泄漏測試 閾值時 導電性材料 導電性零件 測量零件 內壁表面 外壁表面 電阻率 壁厚 標稱 | ||
1.一種對由低導電性材料制成的零件的流體通道進行泄漏測試的方法，所述方法包括：
用電阻測試儀測量所述零件的流體通道的內壁表面與所述零件的流體通道的外壁表面之間的電阻；
確定所述測得的電阻是否等于或大于閾值，或者所述測得的電阻是否小于所述閾值；
當所述測得的電阻等于或大于所述閾值時，確認通過所述泄漏測試；并且
當所述測得的電阻小于所述閾值時，確認未通過所述泄漏測試。
2.如權利要求1所述的方法，其中測量所述電阻包括將所述電阻測試儀的第一測試探針定位為與所述流體通道的外壁表面接觸，并且將所述電阻測試儀的第二測試探針定位為與所述流體通道的內壁表面接觸。
3.如權利要求1所述的方法，其中測量所述電阻包括將測試電壓施加到所述第一測試探針和所述第二測試探針中的其中之一上。
4.如權利要求3所述的方法，其中所述測試電壓約等于1000伏。
5.如權利要求1所述的方法，還包括根據所述低導電性材料的電阻率計算所述閾值。
6.如權利要求5所述的方法，其中計算所述閾值包括在所述流體通道的外壁表面與所述流體通道的內壁表面之間測量所述低導電性材料的標稱壁厚。
7.如權利要求6所述的方法，其中計算所述閾值包括將所述低導電性材料的電阻率乘以所述流體通道的標稱壁厚，得到所述閾值。
8.如權利要求1所述的方法，其中所述低導電性材料包括等于或大于1.0x1012歐姆-厘米的電阻率。
9.如權利要求1所述的方法，還包括在測量所述流體通道的內壁表面與所述流體通道的外壁表面之間的電阻之前，對所述零件進行干燥。
10.如權利要求9所述的方法，其中對所述零件進行干燥還被定義為除去所述零件的表面水分。
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