[發(fā)明專利]電源采樣電路及包括其的零功耗上電復(fù)位電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810121063.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108418573A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅杰;魯華祥;楊文軒;李文昌;王彥虎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H03K17/22 | 分類號(hào): | H03K17/22 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100083 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漏極 電源采樣電路 電容 第一端 上電復(fù)位電路 源極連接 零功耗 電阻 依賴度 上電 源極 電源 | ||
本公開(kāi)提供了一種電源采樣電路及包括其的零功耗上電復(fù)位電路。其中,該電源采樣電路包括:第一NMOS,其柵極與自身的源極連接;第一PMOS,其柵極與自身的漏極連接,其漏極同時(shí)與所述第一NMOS的漏極連接;第一電阻,其第一端與所述第一PMOS的源極連接;第一電容,其第一端與所述第一NMOS的源極連接,其第二端與所述第一PMOS的漏極連接;第二NMOS,其源極與所述第一電容的第一端連接,其柵極與所述第一電容的第二端連接;以及第二電容,其第一端與所述第二NMOS的漏極連接,其第二端與所述第一電阻的第二端連接。本公開(kāi)電源采樣電路及包括其的零功耗上電復(fù)位電路,對(duì)電源的上電時(shí)間長(zhǎng)短依賴度低,具有工藝跟隨特性。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及電路領(lǐng)域,具體涉及一種零功耗、對(duì)電源的上電時(shí)間長(zhǎng)短依賴度低和工藝跟隨的電源采樣電路及包括其的上電復(fù)位電路。
背景技術(shù)
上電復(fù)位電路是電路系統(tǒng)中普遍使用的基本模擬模塊。當(dāng)電路系統(tǒng)的功耗預(yù)算比較苛刻的情況下,零靜態(tài)功耗的上電復(fù)位電路是一個(gè)必然選擇。然而,要實(shí)現(xiàn)零靜態(tài)功耗也是需要付出代價(jià)的,比如增加反饋控制信號(hào)來(lái)控制電源采樣電路的開(kāi)關(guān),反饋控制信號(hào)的正確性必須得到保證,當(dāng)上電復(fù)位電路在沒(méi)有達(dá)到翻轉(zhuǎn)閾值和超過(guò)翻轉(zhuǎn)閾值兩種狀態(tài)下保證電源采樣電路打開(kāi)和關(guān)閉。
常規(guī)做法的零靜態(tài)功耗上電復(fù)位電路如圖1所示,該電路由VDD采樣電路,POR狀態(tài)翻轉(zhuǎn)鎖存輸出驅(qū)動(dòng)電路和Brown Out復(fù)位電路組成。該電路工作過(guò)程:當(dāng)VDD在上電時(shí)控制信號(hào)POR EN為‘0’,VDD采樣電路的開(kāi)關(guān)管MP1打開(kāi),經(jīng)過(guò)電阻R1和R2對(duì)VDD電壓進(jìn)行分壓,當(dāng)節(jié)點(diǎn)VDD DET電壓達(dá)到上電復(fù)位電路設(shè)計(jì)的翻轉(zhuǎn)閾值時(shí)狀態(tài)翻轉(zhuǎn)并將狀態(tài)鎖存起來(lái),同時(shí)控制信號(hào)POR EN為‘1’,VDD采樣電路的開(kāi)關(guān)管MP1關(guān)閉,此時(shí)VDD到VSS的通路被關(guān)斷靜態(tài)功耗為零,POR輸出;當(dāng)VDD下電達(dá)到設(shè)計(jì)閾值時(shí),Brown Out復(fù)位電路工作將POR狀態(tài)翻轉(zhuǎn)鎖存電路進(jìn)行復(fù)位,此時(shí)控制信號(hào)POR EN從‘1’轉(zhuǎn)變?yōu)椤?’,VDD采樣電路的開(kāi)關(guān)管MP1再次打開(kāi)等待下次VDD上電過(guò)程。該電路存在的不足是要保證控制信號(hào)POR EN在電源VDD上電和下電過(guò)程中狀態(tài)的正確性,否則將不能完成上電復(fù)位的功能,現(xiàn)有復(fù)位電路為了達(dá)到該目的電路使用了較復(fù)雜的設(shè)計(jì)。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
為了解決或者至少部分緩解上述技術(shù)問(wèn)題,本公開(kāi)提供了一種電源采樣電路及包括其的零功耗上電復(fù)位電路,其對(duì)電源的上電時(shí)間長(zhǎng)短依賴度低,具有工藝跟隨特性。
(二)技術(shù)方案
根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供了一種電源采樣電路,包括:第一NMOS,其柵極與其自身的源極連接;第一PMOS,其柵極與其自身的漏極連接,且其漏極同時(shí)與所述第一NMOS的漏極連接;第一電阻,其第一端與所述第一PMOS的源極連接;第一電容,其第一端與所述第一NMOS的源極連接,其第二端與所述第一PMOS的漏極連接;第二NMOS,其源極與所述第一電容的第一端連接,其柵極與所述第一電容的第二端連接;以及第二電容,其第一端與所述第二NMOS的漏極連接,其第二端與所述第一電阻的第二端連接。
在一些實(shí)施例中,所述第一NMOS的柵極接地。
根據(jù)本公開(kāi)的另一個(gè)方面,一種零功耗上電復(fù)位電路,其包括所述的電源采樣電路,還包括POR狀態(tài)翻轉(zhuǎn)電路,與所述電源采樣電路連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué),未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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