[發明專利]一種基于激光反射的標高定位系統

在審

• 申請號: 201810111635.7
• 申請日: 2018-02-05
• 公開（公告）號: CN108534749A
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發明（設計）人: 梁愛娥;易華斌
• 申請（專利權）人: 廣州市水一方信息科技有限公司
• 主分類號: G01C5/00
• 分類號: G01C5/00;G01C15/00;G01C15/12
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 陳娟

本發明公開了一種基于激光反射的標高定位系統，包括激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊、控制模塊、顯示裝置和激光接收源，激光接收源連接激光發射裝置，激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊和顯示裝置均連接控制模塊，控制模塊通過網絡模塊連接數據監控終端，激光發射裝置包括激光發生器、聚光透鏡、濾光鏡和控制電路板，控制電路板連接激光發生器，聚光透鏡和濾光鏡均連接激光發生器上。本發明設置有激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊、控制模塊、顯示裝置和激光接收源，激光發射裝置發射激光，激光接收源接收激光，利用定位模塊、高度處理模塊、控制模塊計算出相應的高度，顯示裝置可以顯示測量的相關參數。

技術領域

本發明涉及激光定位技術領域，尤其是一種基于激光反射的標高定位系統。

背景技術

在高層或超高層建筑中，激光垂準儀內控法是一種用激光垂準儀進行鉛錘定位測量的方法，適用于高層建筑垂直度的測量。現有技術在高層建筑的內控點鉛錘定位測量時，考慮到儀器自身的性能、建筑物自身的剛性及建筑物所處風力、溫度環境的影響，對高層或超高層建筑物垂直度的檢測采取了分段檢測的措施，分段檢測的措施雖然減小了建筑物自身的剛性及建筑物所處環境的對檢測結果的影響，但存在的問題是，隨著建筑物總高的增高，分段的段數隨之增多，測量的次數也大大增加，導致檢測的累積誤差加大，影響了高層建筑垂直度的檢測精度，如何改善現有鉛錘定位的檢測方法，提高高層建筑垂直度的檢測精度，是當下亟待解決的問題。

因此，對于上述問題有必要提出一種基于激光反射的標高定位系統。

發明內容

本發明目的是克服了現有技術中的不足，提供了一種基于激光反射的標高定位系統。

為了解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現：

一種基于激光反射的標高定位系統，包括激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊、控制模塊、顯示裝置和激光接收源，所述激光接收源連接激光發射裝置，所述激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊和顯示裝置均連接控制模塊，所述控制模塊通過網絡模塊連接數據監控終端，所述激光發射裝置包括激光發生器、聚光透鏡、濾光鏡和控制電路板，所述控制電路板連接激光發生器，所述聚光透鏡和濾光鏡均連接激光發生器上。

優選地，所述控制電路板包括控制芯片、整流電路、放大電路和濾波電路，所述整流電路、放大電路和濾波電路均連接控制芯片。

優選地，所述顯示裝置包括單片機、LED燈組、第一電阻、第一二極管、第二二極管、第三二極管、第四二極管、逆變二極管、第一電容和第一電感，所述單片機的第一端腳與單片機的第二端腳之間連接著第一電容，所述第一電容的兩端之間連接第一二極管、第二二極管、第三二極管和第四二極管，所述第一二極管與第三二極管串聯，所述第二二極管與第四二極管串聯。

優選地，所述單片機的第二端腳與單片機的第三端腳之間連接第一電阻，所述單片機的第二端腳與單片機的第四端腳之間連接逆變二極管，所述單片機的第三端腳與單片機的第四端腳之間依次連接有LED燈組和第一電感，所述LED燈組與第一電感串聯。

本發明有益效果：本發明設置有激光發射裝置、定位模塊、高度處理模塊、控制模塊、顯示裝置和激光接收源，激光發射裝置發射激光，激光接收源接收激光，利用定位模塊、高度處理模塊、控制模塊計算出相應的高度，顯示裝置可以顯示測量的相關參數。

以下將結合附圖對本發明的構思、具體結構及產生的技術效果作進一步說明，以充分地了解本發明的目的、特征和效果。

附圖說明

圖1是本發明的結構框圖；

圖2是本發明的顯示裝置電路圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的實施例進行詳細說明，但是本發明可以由權利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。