[發(fā)明專利]測(cè)試覆蓋分析方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810100205.5
• 申請(qǐng)日: 2018-02-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108255734A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周廣增;葉建鋒;鄭培龍;嚴(yán)泳鍵
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)工商銀行股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 王濤

1.一種測(cè)試覆蓋分析方法，其特征在于，包括：

將每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重按由大到小的順序進(jìn)行排序，選擇排序在預(yù)設(shè)位置之前的多個(gè)綜合權(quán)重一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)程序節(jié)點(diǎn)作為核心程序節(jié)點(diǎn)；

根據(jù)已測(cè)試的程序節(jié)點(diǎn)，從所述核心程序節(jié)點(diǎn)中選擇未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)；

根據(jù)所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)以及所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)之間的訪問(wèn)方向，生成程序節(jié)點(diǎn)的有向圖；

從所述程序節(jié)點(diǎn)的有向圖中選擇覆蓋所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)最多的路徑作為測(cè)試鏈路；

選擇與所述測(cè)試鏈路對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本對(duì)所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試覆蓋分析方法，其特征在于，所述將每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重按由大到小的順序進(jìn)行排序，選擇排序在預(yù)設(shè)位置之前的多個(gè)綜合權(quán)重一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)程序節(jié)點(diǎn)作為核心程序節(jié)點(diǎn)之前，還包括：

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的調(diào)用次數(shù)和全部程序節(jié)點(diǎn)的總調(diào)用次數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重；

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的價(jià)值參數(shù)和所述全部程序節(jié)點(diǎn)的總價(jià)值參數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第二權(quán)重；

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重、第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)、第二權(quán)重和第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試覆蓋分析方法，其特征在于，通過(guò)如下公式計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重：

Z_i＝AX_i+BY_i；

其中，Z_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重，A為第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)，X_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重，B為第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)，Y_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第二權(quán)重。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試覆蓋分析方法，其特征在于，

所述第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)和所述第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)之和為1。

5.一種測(cè)試覆蓋分析系統(tǒng)，其特征在于，包括：

核心程序節(jié)點(diǎn)單元，用于將每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重按由大到小的順序進(jìn)行排序，選擇排序在預(yù)設(shè)位置之前的多個(gè)綜合權(quán)重一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)程序節(jié)點(diǎn)作為核心程序節(jié)點(diǎn)；

程序節(jié)點(diǎn)選擇單元，用于根據(jù)已測(cè)試的程序節(jié)點(diǎn)，從所述核心程序節(jié)點(diǎn)中選擇未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)；

有向圖單元，用于根據(jù)所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)以及所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)之間的訪問(wèn)方向，生成程序節(jié)點(diǎn)的有向圖；

測(cè)試鏈路單元，用于從所述程序節(jié)點(diǎn)的有向圖中選擇覆蓋所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)最多的路徑作為測(cè)試鏈路；

測(cè)試單元，用于選擇與所述測(cè)試鏈路對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本對(duì)所述未測(cè)試的核心程序節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試覆蓋分析系統(tǒng)，其特征在于，還包括：綜合權(quán)重計(jì)算單元，用于：

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的調(diào)用次數(shù)和全部程序節(jié)點(diǎn)的總調(diào)用次數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重；

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的價(jià)值參數(shù)和所述全部程序節(jié)點(diǎn)的總價(jià)值參數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第二權(quán)重；

根據(jù)每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重、第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)、第二權(quán)重和第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)，計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試覆蓋分析系統(tǒng)，其特征在于，

所述綜合權(quán)重計(jì)算單元具體通過(guò)如下公式計(jì)算每個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重：

Z_i＝AX_i+BY_i；

其中，Z_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的綜合權(quán)重，A為第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)，X_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第一權(quán)重，B為第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)，Y_i為第i個(gè)程序節(jié)點(diǎn)的第二權(quán)重。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試覆蓋分析系統(tǒng)，其特征在于，

所述第一權(quán)重加權(quán)系數(shù)和所述第二權(quán)重加權(quán)系數(shù)之和為1。