[發明專利]一種軟腭形態及發育的檢測方法

在審

• 申請號: 201810084808.0
• 申請日: 2018-01-29
• 公開（公告）號: CN108175431A
• 公開（公告）日: 2018-06-19
• 發明（設計）人: 任家銀;游夢;王虎;田衛東;劉媛媛;劉莉;唐蓓;鄭廣寧;王揚
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 易小藝

1.一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）準備設備，使設備達到要求的位置；

（2） 頭影測量側位拍攝：將設備調整至頭影測量側位模式，第一次曝光被測者，并儲存圖像；

（3）頭影測量發音側位拍攝：將設備調整至頭影測量側位模式，第二次曝光被測者，同時被測者持續發高元音“i”，直到拍攝完成，保存圖像；

（4）在PACS系統中對比分析兩次拍攝圖像，測定軟腭形態及發音時軟腭的上抬高度及腭咽閉合情況。

2.根據權利要求1中所述的一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于：所述步驟（3）中被測者發高元音“i”時，其軟腭上抬。

3.根據權利要求2中所述的一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于：所述高元間“i”通過電子分貝儀監測，聲音分貝數控制在90dB－100dB。

4.根據權利要求1中所述的一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于：

所述步驟（2）和/或步驟（3）中，被測者雙眼平視前方，眶耳平面與水平面平行，雙側后牙區緊咬，讓上下頜牙列處于ICP位，嘴唇處于自然位；在持續保持不動的狀態下曝光。

5.根據權利要求1中所述的一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于：所述圖像清晰，即頭位沒有發生移位，無明顯運動偽影，頭影測量側位片時能清楚觀察軟腭位置和形態、咽腔的位置和大小，發音時能看到軟腭有無抬高、咽腔是否有閉合，滿足上述要求后可將圖像儲存。

6.根據權利要求1中所述的一種軟腭形態及發育的檢測方法，其特征在于：所述步驟（4）中對比頭影測量側位片和頭影測量發音側位片的圖像，觀察頭影測量發音側位片中軟腭是否向后抬起，是否封閉咽腔：軟腭向后抬起后，貼合咽后壁，封閉了咽腔，形成腭咽閉合后，才可以發出“i”音；如果不能向后抬起，或者抬起后軟腭長度不夠不能完全貼合咽后壁，則無法發出“i”音，考慮腭裂、腭咽閉合不全，在臨床中需要進行腭裂修復。