[發(fā)明專利]一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810073602.8 | 申請日: | 2018-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN109696613A | 公開(公告)日: | 2019-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭勝巖;安浩 | 申請(專利權(quán))人: | 陜西開爾文測控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 長沙新裕知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 43210 | 代理人: | 趙登高 |
| 地址: | 710119 陜西省西安市*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體分立器件 測試裝置 電子測量領(lǐng)域 測試半導(dǎo)體 發(fā)光二極管 二極管 分立器件 模擬器件 檢測端 晶閘管 可控硅 三極管 增強(qiáng)型 電阻 電源 檢測 | ||
本發(fā)明公開了一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置,涉及電子測量領(lǐng)域,該手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置包括電源、開關(guān)、換路鍵、電阻、發(fā)光二極管和檢測端,本發(fā)明能夠根據(jù)器件的性質(zhì),模擬器件工作的條件,以快捷、準(zhǔn)確的測試半導(dǎo)體分立器件的質(zhì)量,該裝置適用于二極管、增強(qiáng)型MOS管、三極管、IGBT、晶閘管、可控硅等器件的檢測工作。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子測量領(lǐng)域,尤其涉及一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,用戶常常使用萬用表的二極管檔檢測二極管、增強(qiáng)型MOS管、三極管、IGBT、晶閘管和可控硅等器件的質(zhì)量,具體操作方式如下:
1、二極管測量PN結(jié)的二極管性質(zhì)
2、三極管測量兩個PN結(jié)的二極管性質(zhì)。
3、MOS管和IGBT測量兩反向續(xù)流二極管的性質(zhì)。
4、晶閘管和可控硅測量G極到輸出極的二極管的性質(zhì)。
上述測試方式雖然簡單,但是沒有真正測量到器件真實工作過程,無法準(zhǔn)確判斷器件的好壞的。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置,夠根據(jù)器件的性質(zhì),模擬器件工作的條件,以快捷、準(zhǔn)確的測試半導(dǎo)體分立器件的質(zhì)量,該裝置適用于二極管、增強(qiáng)型MOS管、三極管、IGBT、晶閘管、可控硅等器件的檢測工作。
本發(fā)明通過以下技術(shù)手段解決上述問題:
一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置,包括電源、第一開關(guān)、第二開關(guān)、換路鍵、第一電路節(jié)點、第二電路節(jié)點、第一電阻、第二電阻、第一發(fā)光二極管、第二發(fā)光二極管、第一檢測端和第二檢測端,其中:
所述第二開關(guān)為雙刀雙置開關(guān)、且包括兩個輸入端和四個輸出端;所述換路鍵包括四個輸入端和四個輸出端,換路鍵與第二開關(guān)配合工作用于改變換路鍵輸出電源的極性;
所述電源的正極通過第一開關(guān)連接第二開關(guān)的第一輸入端,電源的負(fù)極連接第二開關(guān)的第二輸入端;
所述第二開關(guān)的第一輸出端和第四輸出端相互連通之后分別連接換路鍵的第一輸入端和第二輸入端,第二開關(guān)的第二輸出端和第三輸出端相互連通之后分別連接換路鍵的第三輸入端和第四輸入端;
所述換路鍵的第一輸出端和第四輸出端相互連通之后連接第一電路節(jié)點,換路鍵的第二輸出端和第三輸出端相互連通之后通過第一電阻連接第二電路節(jié)點;所述第二電阻連接在第一電路節(jié)點與第二電路節(jié)點之間;
所述第一發(fā)光二極管的陰極連接第一電路節(jié)點,第一發(fā)光二極管的陽極連接所述第一檢測端, 所述第二發(fā)光二極管的陽極連接第一電路節(jié)點,第二發(fā)光二極管的陰極連接所述第一檢測端;
所述第一檢測端用于安插被測器件的陽極或陰極;所述第二檢測端連接第二電路節(jié)點、且用于安插被測器件的陰極或陽極。
進(jìn)一步的,還包括控制鍵、第三電阻和第三檢測端,所述控制鍵的一端連接所述第一電路節(jié)點,控制鍵的另一端通過第三電阻連接第三檢測端,所述第三檢測端用于安插被測器件的控制極。
進(jìn)一步的,所述換路鍵包括按鍵或按鍵控制繼電器。
進(jìn)一步的,所述被測器件包括二極管、三極管、MOS管、IGBT、晶閘管或可控硅。
進(jìn)一步的,所述控制極包括三極管的基極、MOS管的門極、IGBT的門極、晶閘管的門極或可控硅的門極。
本發(fā)明的一種手持式半導(dǎo)體分立器件測試裝置具有以下有益效果:
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