[發(fā)明專(zhuān)利]熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810069907.1 | 申請(qǐng)日： | 2015-09-30 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN108132320A | 公開(kāi)（公告）日： | 2018-06-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 丸山文隆;藤卷成彥 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 株式會(huì)社島津制作所 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N30/12 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N30/12;G01N30/72 |
| 代理公司： | 上海華誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖華 |
| 地址： | 日本國(guó)京都府京*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 標(biāo)準(zhǔn)試樣 色譜質(zhì)譜分析裝置 熱裂 校準(zhǔn) 分析對(duì)象 揮發(fā) 校正 高分子材料 材料形成 揮發(fā)性 打孔 穿孔機(jī) 開(kāi)孔器 輥狀 基材 卷成 采集 | ||
1.一種熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其在氣相色譜儀的試樣氣體注入口的前段配置有熱裂解裝置，將通過(guò)在熱裂解裝置中加熱試樣而產(chǎn)生的氣體從氣相色譜儀的注入口導(dǎo)入，經(jīng)過(guò)分離柱后導(dǎo)入質(zhì)譜分析裝置內(nèi)進(jìn)行分析，所述校正方法的特征在于，
將在高分子材料構(gòu)成的基材中以規(guī)定濃度均勻分散分析對(duì)象成分而成的標(biāo)準(zhǔn)試樣形成為片狀，
在校正時(shí)從該片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行所需量的采集，
不進(jìn)行溶劑提取，通過(guò)在所述熱裂解裝置中加熱來(lái)進(jìn)行直接分析。
2.如權(quán)利要求1所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
通過(guò)使用開(kāi)孔器對(duì)所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行打孔來(lái)采集所需量的標(biāo)準(zhǔn)試樣。
3.如權(quán)利要求1或2所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣被卷成輥狀。
4.如權(quán)利要求1或2所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣被切割為規(guī)定的長(zhǎng)度并相互重疊。
5.如權(quán)利要求1或2所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣的正反兩面被覆蓋防揮發(fā)膜。
6.如權(quán)利要求1或2所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣以30mg/Kg～2000mg/Kg的濃度含有分析對(duì)象成分。
7.如權(quán)利要求1或2所述的熱裂解氣相色譜質(zhì)譜分析裝置的校正方法，其特征在于，
所述片狀的標(biāo)準(zhǔn)試樣的片的厚度為0.1～1.3mm。
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