[發(fā)明專利]光檢測和測距系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810068172.0 | 申請日: | 2018-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN108344984B | 公開(公告)日: | 2023-06-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | V·塞劉錢科;M·水木 | 申請(專利權)人: | 邁來芯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/48 | 分類號: | G01S7/48 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永;黃嵩泉 |
| 地址: | 比利時*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 測距 系統(tǒng) | ||
1.一種多信道光檢測和測距系統(tǒng),包括
多個活動信道,每個活動信道包括被布置為暴露于光的光敏元件和被布置為用于接收來自所述光敏元件的信號的模擬前端電路,由此所述活動信道中的至少一個活動信道易被由至少一個其他活動信道引起的串擾干擾影響和/或易被所述模擬前端電路共有的干擾影響,
至少一個補償信道,其也易被所述串擾干擾影響,且包括基本上對光不敏感的補償元件和被布置用于接收來自所述補償元件的信號的模擬前端電路,所述補償元件被電連接到由所述光敏元件共享的網絡和所述至少一個補償信道的所述模擬前端電路,
處理單元,被布置用于
接收來自所述活動信道和所述至少一個補償信道的信號,
從自所述至少一個補償信道接收的所述信號導出至少一個補償信號,
使用所述至少一個補償信號來補償所述串擾干擾和/或所述活動信道的所述模擬前端電路共有的所述干擾。
2.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述補償元件被實施為盲式光電二極管。
3.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述補償元件被實施為電容器。
4.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述補償包括從自所述活動信道接收的所述信號減去所述至少一個補償信號。
5.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),包括修改從所述光敏元件接收到的所述信號的步驟。
6.如權利要求5所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述修改包括執(zhí)行縮放和/或將從所述光敏元件接收到的所述信號應用到濾波器。
7.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),包括至少兩個補償信道。
8.如權利要求7所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述補償包括執(zhí)行其中考慮所述補償信道中的兩個補償信道的位置的梯度補償。
9.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),由此在所述多個活動信道中的所述光敏元件具有共同的端子。
10.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述處理單元在與所述多個所述活動信道的所述光敏元件和所述模擬前端電路相同的襯底上。
11.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述多個信道的所述光敏元件在與所述模擬前端電路和所述處理單元不同的襯底上。
12.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述活動信道的所述光敏元件在與所述至少一個補償信道的所述補償元件不同的襯底上。
13.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述處理單元被布置用于通過觀察在串擾干擾補償之后獲得的信號來檢測信號鏈故障。
14.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),其中所述處理單元被布置用于從所述至少一個補償信道的性能統(tǒng)計導出檢測閾值。
15.如權利要求1所述的多信道光檢測和測距系統(tǒng),進一步被布置用于在給定的時間生成所述模擬前端電路共有的干擾信號,并且由此處理單元被布置用于通過在所述給定的時間觀察在串擾干擾補償之后獲得的信號來檢測信號鏈故障。
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