[發明專利]一種塑封器件分層缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201810064419.1
• 申請日: 2018-01-23
• 公開（公告）號: CN108375632B
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 馮慧;王坦
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06;G01N29/04;G01N1/28;B07C5/34
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李莎;李弘

本發明公開了一種塑封器件分層缺陷檢測方法在原有塑封器件批量超聲檢測前增加塑封器件采購后的預處理程序，用于去除塑封器件內部吸收水分，并通過超聲掃描檢測圖像前后對比確定是否為吸濕塑封器件，進而通過分層缺陷變化的時間來確定每次可聲掃器件只數，將塑封器件進行分批聲掃，該方法可以在保證檢測準確率的同時提高檢測效率。

技術領域

本發明涉及電子元器件缺陷檢測領域，特別是指一種塑封器件分層缺陷檢測方法。

背景技術

電子元器件中的塑封器件由于具有體積小、重量輕、成本低等優勢，近年來廣泛應用于航空航天、商用、民用電子產品領域，但受塑封材料及封裝工藝限制，在制造過程中部分器件內部出現分層、空洞、裂紋等缺陷，使用過程中這些缺陷可能會誘發元件鼓脹、爆裂等問題致使器件毀損失效。

目前聲學掃描顯微鏡檢查技術可以有效的檢測塑封器件內部缺陷，其具體原理為：采用超聲換能器發出一定頻率的超聲波，經聲學透鏡聚焦，由耦合介質傳到塑封器件上，由于不同材料的聲阻抗不同，超聲波在傳輸時，其反射回波強度因材料不同有所差異。當塑封器件內部存在分層等缺陷時，其內部的空隙會存在空氣，由于塑封料與空氣界面的反射系數有別于塑封料與其他界面的反射系數，故其反射回波強度也不同，據此篩選出有缺陷的塑封器件。但在實踐過程中發現，部分塑封器件由于封裝工藝問題，塑封料與引線框架結合不良，使得聲學掃描檢測時水由引腳根部與塑封料的結合界面快速進入器件內部，填充分層區域，從而使聲波導通，導致分層缺陷將無法檢測出來，出現漏檢問題。這使得受測電子產品的可靠性降低。因此，亟需一種更高準確率的檢測方法用于檢測塑封器件內部分層缺陷。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種塑封器件分層缺陷檢測方法，實現對快速吸濕塑封器件分層缺陷的檢測，提高檢測的準確率和效率。

基于上述目的本發明提供的塑封器件分層缺陷檢測方法，包括步驟：

塑封器件干燥預處理；

獲得該類型合格塑封器件的聲學掃描檢測圖像；隨機抽取多只待檢塑封器件置于去離子水中，進行超聲掃描；

若所述超聲掃描過程中檢測到所述待檢塑封器件存在分層現象；則記錄所述分層現象的位置和面積，并保持所述待檢塑封器件繼續置于去離子水中，間隔第一預定時間后再次進行超聲掃描；若所述待檢塑封器件分層現象的位置或面積發生了變化，則判定該批次待檢塑封器件為快速吸濕塑封器件；

隨機抽取多只待檢塑封器件放置在去離子水中進行超聲掃描，之后每隔第二預定時間進行一次掃描，得到所述待檢塑封器件的分層位置和面積第一次發生變化的時間，為該批次待檢塑封器件的進水時間；其中，所述第二預定時間遠小于第一預定時間；

在所述進水的時間內，將待測塑封器件分批進行超聲檢測測試，并剔除塑封分層缺陷器件。

作為一個實施例，所述塑封器件干燥預處理為在溫度范圍為0℃至35℃，濕度范圍為0％至20％的環境下貯存。

作為一個實施例，所述將待測塑封器件分批進行超聲檢測測試包括：用所述進水時間除以掃描每只塑封器件所需的時間，得到每批可以檢測的只數；將待測塑封器件按所述每批可以檢測的只數分批，逐批進行超聲掃描。

作為一個實施例，所述剔除塑封分層缺陷器件為將所述超聲掃描結果與所述合格聲學掃描檢測圖像進行對比，剔除塑封分層有缺陷的塑封器件。

作為一個實施例，所述第一預定時間為10min至15min。

作為一個實施例，所述第一預定時間為10min。

作為一個實施例，所述第二預定時間為1min至1min30s。

作為一個實施例，所述第二預定時間為1min。