[發(fā)明專利]基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置與方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810060658.X
• 申請(qǐng)日: 2018-01-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108400786A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳波;楊景陽(yáng);呂樂(lè);劉路揚(yáng);呂兵;劉凈月
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 航天科工防御技術(shù)研究試驗(yàn)中心
• 主分類號(hào): H03M1/10
• 分類號(hào): H03M1/10
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 王剛

本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置與方法，包括模擬信號(hào)源、聚丙烯電容器以及信號(hào)采集裝置：所述模擬信號(hào)源提供高精度輸入電流；所述聚丙烯電容器對(duì)所述高精度輸入電流進(jìn)行電流積分，將所述高精度輸入電流轉(zhuǎn)化為高精度斜坡電壓，并將所述高精度斜坡電壓輸入被測(cè)器件的模擬信號(hào)輸入端；所述信號(hào)采集裝置采集所述被測(cè)器件的輸出信號(hào)，并對(duì)所述輸出信號(hào)進(jìn)行分析計(jì)算以獲得測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明借助聚丙烯電容的良好特性，利用電流積分法實(shí)現(xiàn)了高精度ADC典型靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試，該方法對(duì)測(cè)試設(shè)備的硬件要求較低，具有很強(qiáng)的應(yīng)用意義。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域，特別是指一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置與方法。

背景技術(shù)

ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)的主要靜態(tài)參數(shù)指標(biāo)包括微分非線性(DNL)、積分非線性(INL)、失調(diào)誤差以及滿量程增益誤差等。針對(duì)ADC的靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的基本方法是給ADC的輸入端輸入一個(gè)理想的信號(hào)，通常采用高精度AWG(任意波形發(fā)生器)產(chǎn)生，然后通過(guò)DCI(數(shù)字捕捉儀)對(duì)ADC轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集分析，最后通過(guò)特定的計(jì)算得到測(cè)試結(jié)果。

對(duì)于高精度的ADC的測(cè)試，需要測(cè)試設(shè)備提供高精度的電壓信號(hào)。然而現(xiàn)有技術(shù)中很多測(cè)試設(shè)備無(wú)法提供高精度的電壓信號(hào)，導(dǎo)致器件無(wú)法測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提出一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置與方法，提供高精度的電壓信號(hào)完成對(duì)ADC靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試。

基于上述目的本發(fā)明提供的一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置，包括模擬信號(hào)源、聚丙烯電容器以及信號(hào)采集裝置：

所述模擬信號(hào)源提供高精度輸入電流；

所述聚丙烯電容器對(duì)所述高精度輸入電流進(jìn)行電流積分，將所述高精度輸入電流轉(zhuǎn)化為高精度斜坡電壓，并將所述高精度斜坡電壓輸入被測(cè)器件的模擬信號(hào)輸入端；

所述信號(hào)采集裝置采集所述被測(cè)器件的輸出信號(hào)，并對(duì)所述輸出信號(hào)進(jìn)行分析計(jì)算以獲得測(cè)試結(jié)果。

優(yōu)選的，所述聚丙烯電容器與被測(cè)器件的模擬信號(hào)輸入端之間連接第一緩沖寄存器。

優(yōu)選的，還包括參考電壓源，所述參考電壓源用于向所述被測(cè)器件的參考電壓輸入端輸入?yún)⒖茧妷骸?/p>

優(yōu)選的，所述參考電壓源與所述被測(cè)器件的參考電壓輸入端之間連接第二緩沖寄存器。

優(yōu)選的，所述第二緩存器與所述被測(cè)器件的參考電壓輸入端之間連接濾波器。

優(yōu)選的，所述第一緩沖寄存器與第二緩沖寄存器的型號(hào)為OPA627。

一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試方法，使用所述基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置，所述方法包括：

由所述模擬信號(hào)源提供高精度輸入電流；

使用所述聚丙烯電容器對(duì)所述高精度輸入電流進(jìn)行電流積分，將所述高精度輸入電流轉(zhuǎn)化為高精度斜坡電壓，并向被測(cè)器件的模擬信號(hào)輸入端輸入所述高精度斜坡電壓；

使用所述信號(hào)采集裝置采集所述被測(cè)器件的輸出信號(hào)，并對(duì)所述輸出信號(hào)進(jìn)行分析計(jì)算。

從上面所述可以看出，本發(fā)明提供的一種基于電流積分法的ADC典型靜態(tài)參數(shù)測(cè)試裝置與方法，借助于聚丙烯電容的良好特性，利用電流積分法實(shí)現(xiàn)了高精度ADC電性靜態(tài)參數(shù)測(cè)試；該裝置與方法放棄了將不易控制精度的電壓作為模擬信號(hào)的輸入源，而是將易于控制精度的電流通過(guò)聚丙烯電容轉(zhuǎn)化為高精度斜坡電壓，從而能夠在普通設(shè)備上實(shí)現(xiàn)高精度ADC的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試；該裝置與方法所采用的設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，硬件成本較低，適用于大多數(shù)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，易于推廣和使用。

附圖說(shuō)明