[發(fā)明專利]電子裝置、跌落檢測(cè)方法及相關(guān)產(chǎn)品有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810060465.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108234720B | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張海平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04M1/18 | 分類號(hào): | H04M1/18;H04M1/24;H04M1/72403 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 裝置 跌落 檢測(cè) 方法 相關(guān) 產(chǎn)品 | ||
本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種電子裝置、跌落檢測(cè)方法及相關(guān)產(chǎn)品,包括:檢測(cè)到電子裝置處于跌落狀態(tài)時(shí),采集電子裝置的跌落數(shù)據(jù);將跌落數(shù)據(jù)分成多個(gè)數(shù)據(jù)塊;分布式處理多個(gè)數(shù)據(jù)塊,以生成電子裝置的跌落結(jié)果。本申請(qǐng)實(shí)施例有利于提高電子裝置生成跌落結(jié)果的實(shí)時(shí)性和效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及移動(dòng)終端技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種電子裝置、跌落檢測(cè)方法及相關(guān)產(chǎn)品。
背景技術(shù)
隨著智能手機(jī)等移動(dòng)終端的大量普及應(yīng)用,智能手機(jī)能夠支持的應(yīng)用越來越多,功能越來越強(qiáng)大,智能手機(jī)向著多樣化、個(gè)性化的方向發(fā)展,成為用戶生活中不可缺少的電子用品。用戶在使用該智能手機(jī)的過程中,由于某些原因可能會(huì)跌落智能手機(jī),導(dǎo)致智能手機(jī)跌落損壞。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電子裝置、跌落檢測(cè)方法及相關(guān)產(chǎn)品,以期提高電子裝置生成跌落結(jié)果的實(shí)時(shí)性和效率。
第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子裝置,包括處理器、跌落傳感器,所述處理器與所述跌落傳感器耦合,其中,
所述跌落傳感器,用于電子裝置跌落時(shí)采集所述電子裝置的跌落數(shù)據(jù);
所述處理器,用于將所述跌落數(shù)據(jù)分成多個(gè)數(shù)據(jù)塊;以及用于分布式處理所述多個(gè)數(shù)據(jù)塊,以生成所述電子裝置的跌落結(jié)果。
第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種跌落檢測(cè)方法,包括
檢測(cè)到電子裝置處于跌落狀態(tài)時(shí),采集所述電子裝置的跌落數(shù)據(jù);
將所述跌落數(shù)據(jù)分成多個(gè)數(shù)據(jù)塊;
分布式處理所述多個(gè)數(shù)據(jù)塊,以生成所述電子裝置的跌落結(jié)果。
第三方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種跌落檢測(cè)裝置,包括
采集單元、劃分單元、生成單元,其中,
所述采集單元,用于檢測(cè)到電子裝置處于跌落狀態(tài)時(shí),采集所述電子裝置的跌落數(shù)據(jù);
所述劃分單元,用于將所述跌落數(shù)據(jù)分成多個(gè)數(shù)據(jù)塊;
所述生成單元,用于分布式處理所述多個(gè)數(shù)據(jù)塊,以生成所述電子裝置的跌落結(jié)果。
第四方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子裝置,包括處理器、存儲(chǔ)器、通信接口以及一個(gè)或多個(gè)程序,其中,上述一個(gè)或多個(gè)程序被存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)器中,并且被配置由上述處理器執(zhí)行,上述程序包括用于執(zhí)行本申請(qǐng)實(shí)施例第二方面任一方法中的步驟的指令。
第五方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中,上述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)用于電子數(shù)據(jù)交換的計(jì)算機(jī)程序,其中,上述計(jì)算機(jī)程序使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行如本申請(qǐng)實(shí)施例第二方面任一方法中所描述的部分或全部步驟。
第六方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其中,上述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括存儲(chǔ)了計(jì)算機(jī)程序的非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),上述計(jì)算機(jī)程序可操作來使計(jì)算機(jī)執(zhí)行如本申請(qǐng)實(shí)施例第二方面任一方法中所描述的部分或全部步驟。該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品可以為一個(gè)軟件安裝包。
可以看出,本申請(qǐng)實(shí)施例中,電子裝置檢測(cè)到電子裝置處于跌落狀態(tài)時(shí),首先采集電子裝置的跌落數(shù)據(jù),其次,將跌落數(shù)據(jù)分成多個(gè)數(shù)據(jù)塊,最后,分布式處理多個(gè)數(shù)據(jù)塊,以生成電子裝置的跌落結(jié)果。由于跌落過程時(shí)間短、數(shù)據(jù)量大,故而針對(duì)跌落數(shù)據(jù)采用分布式處理,減少數(shù)據(jù)處理耗時(shí),有利于提高電子裝置生成跌落結(jié)果的實(shí)時(shí)性和效率。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1A是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種電子裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
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