[發(fā)明專利]柔性基底結(jié)構(gòu)及其制備方法與柔性器件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810054541.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108258057A | 公開(公告)日: | 2018-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李陽;于鋒;楊海濤;劉玉成;劉曉佳;國天增 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 云谷(固安)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/786 | 分類號(hào): | H01L29/786;H01L21/683 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凱 |
| 地址: | 065500 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 柔性基底 阻隔層 柔性器件 立體結(jié)構(gòu) 制備 表面形成 凹凸面 依次層疊 有效緩解 緩沖層 覆蓋 基底 加成 阻隔 剝離 釋放 | ||
本發(fā)明公開了一種柔性基底結(jié)構(gòu)及其制備方法與柔性器件。該柔性基底結(jié)構(gòu)包括依次層疊設(shè)置的第一柔性基底、阻隔層和第二柔性基底;所述第一柔性基底與所述阻隔層相接觸一側(cè)的表面形成第一凹凸面,所述阻隔層連續(xù)的覆蓋在所述第一柔性基底的第一凹凸面上,且所述阻隔層與所述第二柔性基底相接觸一側(cè)的表面形成第二凹凸面,所述第二柔性基底連續(xù)的覆蓋在所述阻隔層的第二凹凸面上。本發(fā)明還提供所述柔性基底結(jié)構(gòu)的制備方法和包括所述柔性基底結(jié)構(gòu)的柔性器件。本發(fā)明使得兩個(gè)立體結(jié)構(gòu)的柔性基底和立體結(jié)構(gòu)的阻隔層疊加成所述柔性基底結(jié)構(gòu),并使立體結(jié)構(gòu)的柔性基底和阻隔層互為緩沖層,從而有效緩解和釋放柔性器件從硬性基底上剝離時(shí)產(chǎn)生的應(yīng)力。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,特別是涉及一種柔性基底結(jié)構(gòu)及其制備方法,以及包括該柔性基底結(jié)構(gòu)的柔性器件。
背景技術(shù)
如圖1所示,在制備柔性半導(dǎo)體器件,例如柔性TFT時(shí),通常在硬性基底1上設(shè)置聚酰亞胺層2作為柔性基底,并在聚酰亞胺層2上制備一層氮化硅層4來阻隔水氧對(duì)后續(xù)制備的各膜層的侵害,同時(shí),由于氮化硅層4與聚酰亞胺層2的結(jié)合力較差,而氧化硅與氮化硅和聚酰亞胺的結(jié)合力均較好,因此,通常在氮化硅層4和聚酰亞胺層2之間設(shè)置一層氧化硅層3來提高氮化硅和聚酰亞胺的結(jié)合力。然而,上述聚酰亞胺層2、氧化硅層3和氮化硅層4彼此之間存在承受應(yīng)力不匹配的問題,容易使制備完成的柔性半導(dǎo)體器件從硬性基底上分離時(shí)發(fā)生卷曲,嚴(yán)重影響柔性半導(dǎo)體器件的正常工作。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種能夠緩解應(yīng)力的柔性基底結(jié)構(gòu)及其制備方法與包括該柔性基底結(jié)構(gòu)的柔性器件。
為此,在本發(fā)明中提供了一種柔性基底結(jié)構(gòu),包括依次層疊設(shè)置的第一柔性基底、阻隔層和第二柔性基底;所述第一柔性基底與所述阻隔層相接觸一側(cè)的表面形成第一凹凸面,所述阻隔層連續(xù)的覆蓋在所述第一柔性基底的第一凹凸面上,且所述阻隔層與所述第二柔性基底相接觸一側(cè)的表面形成第二凹凸面,所述第二柔性基底連續(xù)的覆蓋在所述阻隔層的第二凹凸面上。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第二凹凸面中各凹部相應(yīng)的嵌套在各第一凹凸面中各凹部內(nèi)。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一柔性基底遠(yuǎn)離所述阻隔層一側(cè)的表面為平坦面,和/或,所述第二柔性基底遠(yuǎn)離所述阻隔層一側(cè)的表面為平坦面。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一凹凸面和/或所述第二凹凸面由凹凸部組成,所述凹凸部的形狀選自三角形、矩形、弧形和半圓形中的一種或幾種。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一凹凸面和所述第二凹凸面均由矩形的凹凸部組成。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一凹凸面的凹部的深度為所述第一柔性基底最大厚度的10%~90%;和/或,所述第二凹凸面的凹部的深度為所述第二柔性基底最大厚度的10%~90%。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一凹凸面中凸部的寬度為凹部的寬度的10%~90%;和/或,所述第二凹凸面中凹部的寬度為凸部的寬度的10%~90%。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述阻隔層的厚度小于所述第一凹凸面中凸部的高度,且連續(xù)覆蓋在所述第一凹凸面上的所述阻隔層具有與所述第一凹凸面相對(duì)應(yīng)的第二凹凸面。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述阻隔層包括依次層疊設(shè)置的第一連接材料層、阻隔材料層和第二連接材料層,所述第一連接材料層設(shè)置于所述阻隔材料層與所述第一柔性基底之間,所述第二連接材料層設(shè)置于所述阻隔材料層與所述第二柔性基底之間。
在其中一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,所述第一柔性基底和所述第二柔性基底的材料為聚酰亞胺,所述阻隔材料層由氮化硅制成,所述第一連接材料層和所述第二連接材料層由氧化硅制成。
同時(shí),在本發(fā)明中還提供了一種所述柔性基底結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:
提供硬性基底;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





