[發(fā)明專利]一種沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備及使用方法和應(yīng)用有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810046196.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110047774B | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州纖納光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L51/00;H01L51/42 |
| 代理公司: | 杭州奧創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33272 | 代理人: | 楊文華 |
| 地址: | 311121 浙江省杭州*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 沉浸 制備 鈣鈦礦 薄膜 設(shè)備 使用方法 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明涉及一種沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備,包括一密封腔室,在密封腔室內(nèi)至少設(shè)置有一組半封閉反應(yīng)器裝置,半封閉反應(yīng)器裝置包括下加熱升華裝置和上加熱臺(tái),在下加熱升華裝置的頂部設(shè)置有器皿,在器皿內(nèi)盛載有反應(yīng)物前體,在器皿的正上方設(shè)置有基片架,基片架遮罩在器皿的開口上,在器皿的側(cè)面設(shè)置有基片架支撐平臺(tái),基片架設(shè)置在基片架支撐平臺(tái)上,在基片架的下底面設(shè)置有待沉積的基片,基片上的待沉積面正朝向器皿中的反應(yīng)物前體,上加熱臺(tái)設(shè)置在基片架上給基片加熱。本發(fā)明還公開了使用該沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備制備鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的方法。本發(fā)明可在制備過(guò)程中控制薄膜的晶體生長(zhǎng),提高成膜質(zhì)量及均勻性和重復(fù)性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于鈣鈦礦太陽(yáng)能電池技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備及使用方法和應(yīng)用。
背景技術(shù)
太陽(yáng)能電池是一種光電轉(zhuǎn)換器件,利用半導(dǎo)體的光伏效應(yīng)將太陽(yáng)能轉(zhuǎn)化為電能。發(fā)展至今,太陽(yáng)能發(fā)電已經(jīng)成為除水力發(fā)電和風(fēng)力發(fā)電之外最重要的可再生能源。現(xiàn)用于商業(yè)化的半導(dǎo)體有單晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化鎘、銅銦鎵硒等等,但大多能耗大、成本高。
近年來(lái),一種鈣鈦礦太陽(yáng)能電池受到廣泛關(guān)注,這種鈣鈦礦太陽(yáng)能電池以有機(jī)金屬鹵化物為光吸收層。鈣鈦礦為ABX3型的立方八面體結(jié)構(gòu),如圖1所示。此種材料制備的薄膜太陽(yáng)能電池工藝簡(jiǎn)便、生產(chǎn)成本低、穩(wěn)定且轉(zhuǎn)化率高,自2009年至今,光電轉(zhuǎn)換效率從3.8%提升至22%以上,已高于商業(yè)化的晶硅太陽(yáng)能電池且具有較大的成本優(yōu)勢(shì)。
現(xiàn)有的各種鈣鈦礦太陽(yáng)能電池薄膜成型工藝可分為兩大類:溶液法和氣相法。在溶液法操作簡(jiǎn)便,但薄膜均一性、重復(fù)性差,影響電池的效率。氣相法有雙源共蒸發(fā)法、氣相輔助溶液法、化學(xué)氣相沉積(CVD)等方法,其中氣相溶液輔助法可制備均一、大晶粒尺寸、表面粗糙度小的鈣鈦礦薄膜,但薄膜的重復(fù)性、成膜質(zhì)量有待提高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于,提供一種沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備及使用方法和應(yīng)用,提供了一個(gè)均勻穩(wěn)定的反應(yīng)環(huán)境,可在制備過(guò)程中控制薄膜的晶體生長(zhǎng),提高成膜質(zhì)量及均勻性和重復(fù)性,并可嵌入大型生產(chǎn)線進(jìn)行連續(xù)生產(chǎn)。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,提供一種沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備,包括一密封腔室,在所述密封腔室內(nèi)至少設(shè)置有一組半封閉反應(yīng)器裝置,所述半封閉反應(yīng)器裝置包括下加熱升華裝置和上加熱臺(tái),在所述下加熱升華裝置的頂部設(shè)置有開口朝上的器皿,在所述器皿內(nèi)盛載有反應(yīng)物前體,在所述器皿的正上方設(shè)置有基片架,所述基片架遮罩在器皿的開口上,在所述器皿的側(cè)面設(shè)置有基片架支撐平臺(tái),所述基片架設(shè)置在基片架支撐平臺(tái)上,在所述基片架的下底面設(shè)置有待沉積的基片,所述基片位于器皿的正上方,其上的待沉積面正朝向器皿中的反應(yīng)物前體,所述上加熱臺(tái)設(shè)置在基片架上以加熱基片,所述反應(yīng)物前體被蒸發(fā)沉積到基片表面;控制密封腔室內(nèi)的氣壓,控制上加熱臺(tái)和下加熱升華裝置的加熱溫度。
進(jìn)一步地,所述器皿的開口面積大于基片的面積。
進(jìn)一步地,所述基片架可帶動(dòng)基片在水平或垂直方向來(lái)回往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
進(jìn)一步地,在所述器皿內(nèi)的反應(yīng)物前體厚度為2~10mm,其厚度差不超過(guò)0.1~1.0mm;所述基片的待沉積面與反應(yīng)物前體的頂面高度距離為5~40mm。
進(jìn)一步地,所述密封腔室內(nèi)的反應(yīng)氣壓范圍為10-5Pa~105Pa,所述上加熱臺(tái)的加熱溫度范圍為20~400℃,所述下加熱升華裝置的加熱溫度范圍為20~400℃,反應(yīng)時(shí)間為10~120min。
進(jìn)一步地,所述密封腔室為小型腔體或大型連續(xù)生產(chǎn)設(shè)備,密封腔室內(nèi)的氣壓由真空泵和真空閥控制。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,還提供一種如前所述的沉浸式制備鈣鈦礦薄膜的設(shè)備的使用方法,包括以下步驟:
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





