[發明專利]降低土壤修復中污染物異常特高值影響的方法及系統

有效

• 申請號: 201810028687.8
• 申請日: 2018-01-12
• 公開（公告）號: CN108268977B
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 葉玉強;王衛;孫強林;曾航旗;包金坤
• 申請（專利權）人: 武漢智博創享科技股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/04
• 分類號: G06Q10/04;B09C1/00
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 程殿軍

1.一種降低土壤修復中污染物異常特高值影響的方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取原始采樣數據，對原始數據進行分析，劃定特高值邊界，對高于特高值邊界的數值進行調整以降低到該特高值邊界值；

將上述調整后的數據進行求對數處理；

對初步修正后的數據進行插值處理；

對插值后的圖形再次進行空間濾波實現圖形修正；

利用修復值作為閾值對修正后的圖形進行修復范圍劃定，高于修復值的確定為所需修復區域；

所述劃定特高值邊界具體采用以下方法：

用平均值加上一定倍數的標準差作為特高值邊界，公式如下：

W＝Wavg+Wstd*n ①

公式中，Wavg為場地范圍內污染物檢測值的平均值，Wstd為場地范圍內污染物檢測值的標準差，n為標準差系數，W即為確定的特高值邊界。

2.如權利要求1所述的降低土壤修復中污染物異常特高值影響的方法，其特征在于，所述將上述調整后的數據進行求對數處理之后，還包括：觀察處理結果后的數據分布形態，數據總體呈正態分布時即滿足要求，若不滿足，返回到式①中調整n值再次進行處理。

3.如權利要求1所述的降低土壤修復中污染物異常特高值影響的方法，其特征在于，所述對初步修正后的數據進行插值所采用的插值方法包括：克里金插值方法和反距離權重插值方法。

4.如權利要求1所述的降低土壤修復中污染物異常特高值影響的方法，其特征在于，所述對插值后的圖形再次進行空間濾波實現圖形修正所采用的方法如下：

主要采用延拓的方法進行處理，其一般公式如下：

其中，h為點距，m取1，2，3…，為上延高度的倍距，△T(0,-mh)為上延mh距離的屬性值，△T(0,0)為初始值，△T(nh,0)與△T(-nh,0)分別表示延不同方向插值后的圖形數據，C_n為上延系數，n取0，1，2，3…，n取不同值時其上延系數也不同。

5.一種降低土壤修復中污染物異常特高值影響的系統，其特征在于，包括：

劃定特高值邊界模塊，用于獲取原始采樣數據，對原始數據進行分析，劃定特高值邊界，對高于特高值邊界的數值進行調整以降低到該特高值邊界值；

求對數處理模塊，用于將上述調整后的數據進行求對數處理；

插值處理模塊，用于對初步修正后的數據進行插值處理；

空間濾波模塊，用于對插值后的圖形再次進行空間濾波實現圖形修正；

修復范圍劃定模塊，用于利用修復值作為閾值對修正后的圖形進行修復范圍劃定，高于修復值的確定為所需修復區域；

所述劃定特高值邊界模塊具體采用以下方法來劃定特高值邊界：

用平均值加上一定倍數的標準差作為特高值邊界，公式如下：

W＝Wavg+Wstd*n ①

公式中，Wavg為場地范圍內污染物檢測值的平均值，Wstd為場地范圍內污染物檢測值的標準差，n為標準差系數，W即為確定的特高值邊界。

6.如權利要求5所述的降低土壤修復中污染物異常特高值影響的系統，其特征在于：所述插值處理模塊所采用的插值方法包括：克里金插值方法和反距離權重插值方法。

7.如權利要求5所述的降低土壤修復中污染物異常特高值影響的系統，其特征在于：所述空間濾波模塊對插值后的圖形再次進行空間濾波實現圖形修正所采用的方法如下：

主要采用延拓的方法進行處理，其一般公式如下：

其中，h為點距，m取1，2，3…，為上延高度的倍距，△T(0,-mh)為上延mh距離的屬性值，△T(0,0)為初始值，△T(nh,0)與△T(-nh,0)分別表示延不同方向插值后的圖形數據，C_n為上延系數，n取0，1，2，3…，n取不同值時其上延系數也不同。