[發明專利]存儲設備及其刷新方法

有效

• 申請號: 201810019422.1
• 申請日: 2018-01-09
• 公開（公告）號: CN108288482B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 崔洹準;梁熙甲
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C11/406
• 分類號: G11C11/406
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張泓;錢大勇

一種存儲設備包括：存儲單元陣列，包括多個存儲單元行；溫度傳感器，檢測存儲單元陣列的溫度并生成內部溫度數據；第一寄存器，存儲從存儲設備外部接收的外部溫度數據；以及刷新控制單元，通過比較內部溫度數據和外部溫度數據來確定以與外部溫度數據對應的刷新頻率接收的刷新命令的跳過率，并且響應于基于跳過率跳過和發送的刷新命令對多個存儲單元行執行刷新操作。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2017年1月9日向韓國知識產權局提交的第10-2017-0002981號韓國專利申請的優先權，其內容通過引用整體并入本文。

技術領域

本公開的實施例針對一種存儲設備及其刷新方法。

背景技術

存儲設備執行刷新操作以維持存儲在存儲單元中的數據。刷新操作消耗電力，因為存儲單元所需的電荷再次被充電。為了降低刷新操作的功耗，刷新操作可以基于溫度而被不同地執行。然而，由于每個存儲設備的不同物理特性、放置位置等，不同存儲設備的操作可能具有不同的溫度依賴性。

發明內容

本公開的實施例可以響應于每個存儲設備的溫度來執行刷新操作。

此外，本公開的實施例可以適當地響應于存儲設備的快速溫度升高。

此外，即使干擾集中在存儲設備的特定單元中，本公開的實施例也執行刷新操作。

本公開的示例性實施例提供了一種存儲設備，包括：存儲單元陣列，包含多個存儲單元行；溫度傳感器，檢測存儲單元陣列的溫度并生成內部溫度數據；第一寄存器，存儲從存儲設備外部接收的外部溫度數據；以及刷新控制單元，通過比較內部溫度數據和外部溫度數據來確定以與外部溫度數據對應的刷新頻率接收的刷新命令的跳過率，并且響應于基于跳過率跳過和發送的刷新命令對多個存儲單元行執行刷新操作。

本公開的另一示例性實施例提供了一種刷新存儲設備的方法，所述存儲設備包括存儲單元陣列，所述存儲單元陣列包括多個存儲單元行，所述方法包括：存儲從存儲器控制器接收的外部溫度數據；確定對應于外部溫度數據的刷新時段；以及響應于從存儲器控制器接收的刷新命令，基于與刷新時段對應的比率，輸出多個存儲單元行地址或多個存儲單元行地址中的至少一個弱單元行地址，其中，存儲單元陣列的弱單元行具有比存儲單元陣列的正常單元行更短的數據保持時間。

本公開的另一示例性實施例提供了一種存儲系統，包括：多個存儲設備，每個存儲設備包括：存儲單元陣列，包含多個存儲單元行，和溫度傳感器，通過檢測存儲單元陣列的溫度生成內部溫度數據；以及存儲器控制器，從多個存儲設備接收內部溫度數據，并且以與內部溫度數據的最高溫度對應的頻率向多個存儲設備輸出用于刷新多個存儲單元行的刷新命令。

本公開的另一示例性實施例提供了一種存儲設備，包括：存儲單元陣列，包含多個存儲單元行；溫度傳感器，檢測存儲單元陣列的溫度并生成第一刷新率數據；第一寄存器，存儲從存儲設備的外部接收的第二刷新速率數據；以及刷新控制單元，基于比較第一刷新率數據和第二刷新率數據的結果，響應于接收的刷新命令，對多個存儲單元行執行刷新操作。

本公開的另一示例性實施例提供了一種存儲設備，包括：存儲單元陣列，包括多個存儲單元行，其中，存儲單元行包括正常存儲單元行和具有比正常存儲單元行更短的數據保持時間的弱存儲單元行；第一寄存器，存儲從存儲設備的外部接收的外部溫度數據；以及刷新控制單元，通過比較存儲單元陣列的內部溫度數據和外部溫度數據并且響應于基于跳過率跳過并執行的刷新命令對多個存儲單元執行刷新操作，來確定以與外部溫度數據對應的刷新頻率接收的刷新命令的跳過率，其中，響應于接收的刷新命令中的至少一個對至少一個弱單元行執行刷新操作。

根據本公開的示例性實施例，可以減少刷新操作的功耗。

根據本公開的示例性實施例，可以提高存儲在存儲單元中的數據的安全性。

附圖說明