[發明專利]一種FDD-LTE基站中心頻率電磁輻射預測方法

有效

• 申請號: 201810010345.3
• 申請日: 2018-01-05
• 公開（公告）號: CN108183755B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 楊萬春;羅昱;高協平;彭艷芬
• 申請（專利權）人: 湘潭大學
• 主分類號: H04B17/318
• 分類號: H04B17/318;H04B17/391;H04W56/00;G01R29/08
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本發明公開了一種FDD?LTE基站中心頻率電磁輻射預測方法，其步驟如下：根據FDD?LTE基站下行物理層傳輸機制，分別計算FDD?LTE基站在下行傳輸帶寬中心頻率處1.08MHz帶寬上物理廣播信道(PBCH)、主同步信號(PSS)、輔同步信號(SSS)、下行鏈路控制信道(PDCCH)和下行鏈路共享信道(PDSCH)的傳輸時長，從而得到FDD?LTE基站中心頻率的信號占空比，結合頻譜分析儀測量到的中心頻率最大電磁輻射強度，計算FDD?LTE基站中心頻率平均電磁輻射強度。本發明分析了FDD?LTE下行傳輸帶寬中心頻率處1.08MHz帶寬上信號的傳輸情況，結合基站數據業務流量與排隊模型計算出FDD?LTE基站中心頻率的信號占空比，從而準確預測FDD?LTE基站中心頻率平均電磁輻射強度。

技術領域

本發明涉及一種FDD-LTE基站中心頻率電磁輻射預測方法。

背景技術

長期演進頻分雙工技術(FDD-LTE)已經成為了主流的商用移動通信網絡，大量建設的FDD-LTE基站使得對FDD-LTE基站的電磁輻射評估具有重要的意義。在目前FDD-LTE基站的電磁輻射研究，文獻《In situ LTE exposure of the general public:Characterization and extrapolation》(Joseph W,Verloock L,Goeminne F,et al.Insitu LTE exposure of the general public:Characterization and extrapolation[J].Bioelectromagnetics,2012,33(6):466.)通過測量同步信號和參考信號來預測FDD-LTE基站的最大電磁輻射強度；文獻《Low-cost extrapolation method for maximal LTEradio base station exposure estimation:test and validation》(Verloock L,JosephW,Gati A,et al.Low-cost extrapolation method for maximal LTE radio basestation exposure estimation:test and validation[J].Radiation ProtectionDosimetry,2013,155(1):11-5.)通過測量物理廣播信道(PBCH)來預測FDD-LTE基站的最大電磁輻射強度。這些文獻提供的方法不能用于預測FDD-LTE基站平均電磁輻射強度。同時，FDD-LTE基站中心頻率處的信號傳輸與非中心頻率處不同，FDD-LTE基站中心頻率平均電磁輻射強度預測技術和非中心頻率平均電磁輻射強度預測技術會存在差異，目前還沒有相關文獻和專利來解決這個問題。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供一種FDD-LTE基站中心頻率電磁輻射預測方法。

本發明解決上述技術問題的技術方案包括以下步驟：

1)、FDD-LTE基站在下行傳輸帶寬中心頻率處1.08MHz帶寬上傳輸有物理廣播信道(PBCH)、主同步信號(PSS)、輔同步信號(SSS)、物理下行鏈路控制信道(PDCCH)和物理下行鏈路共享信道(PDSCH)。結合基站數據業務流量，計算PBCH、PSS、SSS、PDCCH和PDSCH的傳輸時長；

2)、通過步驟1)得到的PBCH、PSS、SSS、PDCCH和PDSCH的傳輸時長，計算FDD-LTE基站中心頻率的信號占空比；

3)、利用頻譜分析儀測量FDD-LTE基站中心頻率最大電磁輻射強度，結合步驟2)得到的FDD-LTE基站中心頻率的信號占空比，計算FDD-LTE基站中心頻率平均電磁輻射強度。