[發(fā)明專利]一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810004001.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107941828A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范明豪;孫韜;季坤;張佳慶;嚴(yán)波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)網(wǎng)安徽省電力有限公司電力科學(xué)研究院;國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)安徽省電力有限公司合肥供電公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京雙收知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11241 | 代理人: | 樓湖斌 |
| 地址: | 230601 安*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 射線 實(shí)時(shí) 成像 技術(shù) 電力電纜 接頭 無(wú)損 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:該檢測(cè)系統(tǒng)包括探測(cè)系統(tǒng)、檢測(cè)平臺(tái)以及支架系統(tǒng),所述支架系統(tǒng)支撐探測(cè)系統(tǒng)完成對(duì)電纜及接頭的探測(cè),所述探測(cè)系統(tǒng)通過(guò)無(wú)線通信網(wǎng)絡(luò)與檢測(cè)平臺(tái)連接,所述探測(cè)系統(tǒng)包括X射線源與探測(cè)器盒,所述探測(cè)器盒與X射線源連接。
2.據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述探測(cè)器盒包括圖像增強(qiáng)器、CCD圖像傳感器、A/D轉(zhuǎn)換模塊、CPU模塊、通信模塊以及電源模塊,所述X射線源與CPU模塊通過(guò)航插控制線纜連接,所述圖像增強(qiáng)器與CCD圖像傳感器連接,所述CCD圖像傳感器與A/D轉(zhuǎn)換模塊連接,所述CPU模塊連接在A/D轉(zhuǎn)換模塊與通信模塊之間,所述電源模塊與CPU模塊連接,所述通信模塊通過(guò)無(wú)線通信網(wǎng)絡(luò)與檢測(cè)平臺(tái)連接。
3.據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述CCD圖像傳感器選用1024×1280像素的1/2″面陣CCD,所述CPU模塊以MC9S08DZ60芯片為核心,所述A/D轉(zhuǎn)換模塊以ADS1110芯片為核心。
4.據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述檢測(cè)平臺(tái)包括上位機(jī)、顯示屏以及輸入設(shè)備,所述上位機(jī)通過(guò)無(wú)線通信網(wǎng)絡(luò)與探測(cè)系統(tǒng)連接,所述顯示屏和輸入設(shè)備均與上位機(jī)連接。
5.據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述支架系統(tǒng)包括支撐桿、U形架、橫軸、拐臂以及底座,所述支撐桿分為上支撐桿和下支撐桿,上支撐桿和下支撐桿之間采用螺紋連接,下支撐桿與底座連接,上支撐桿通過(guò)橫軸與拐臂連接,所述橫軸可隨上支撐桿沿下支撐桿上下移動(dòng)和旋轉(zhuǎn),所述拐臂通過(guò)軸套可沿橫軸表面水平移動(dòng),所述U形架裝設(shè)于拐臂末端,且通過(guò)螺紋結(jié)構(gòu)可繞拐臂旋轉(zhuǎn),所述U形架兩端分別裝設(shè)小焦點(diǎn)X射線源與探測(cè)器盒。
6.一種基于X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)的電力電纜及接頭無(wú)損檢測(cè)方法,其特征在于:該無(wú)損檢測(cè)方法包括以下步驟:
步驟1.圖像獲?。豪眯〗裹c(diǎn)X射線源,采用雙壁單影透射法、雙壁雙影橢圓成像平移法或雙壁雙影橢圓成像角度法照射待檢測(cè)的電纜及接頭,通過(guò)調(diào)整對(duì)比度、焦距等參數(shù),得到電纜及接頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像,數(shù)據(jù)經(jīng)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)傳輸,由上位機(jī)接收;
步驟2.預(yù)處理:將探測(cè)系統(tǒng)分段拍攝的原始電纜及接頭內(nèi)部各層結(jié)構(gòu)圖像拼接融合后,再對(duì)合成后的底片圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行灰度處理,得到灰度化圖像數(shù)據(jù);
步驟3.邊緣檢測(cè):對(duì)灰度處理后的完整電纜及接頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像數(shù)據(jù),進(jìn)行數(shù)據(jù)檢查、濾波、增強(qiáng)操作后,通過(guò)對(duì)閾值大小的調(diào)整,獲取顯著邊緣點(diǎn);
步驟4.分層著色:依據(jù)邊界分布與物質(zhì)屬性對(duì)結(jié)構(gòu)圖像著色,氣泡內(nèi)部區(qū)域保持空白;
步驟5.圖像差分:將著色后的電纜及接頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像,與數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)電纜及接頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像進(jìn)行差分處理,得到突出顯示部分圖像;
步驟6.結(jié)果分析:對(duì)突出顯示部分圖像進(jìn)行分析,若各層結(jié)構(gòu)間差異滿足相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)要求并無(wú)氣泡,則認(rèn)為該電纜及接頭檢測(cè)結(jié)果為正常;反之,則認(rèn)為該電纜及接頭檢測(cè)結(jié)果為異常,輸出圖像交由工作人員處理。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 實(shí)時(shí)解碼系統(tǒng)與實(shí)時(shí)解碼方法
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- 實(shí)時(shí)量化方法及實(shí)時(shí)量化系統(tǒng)





