[發明專利]流體儲存器阻抗傳感器

有效

• 申請號: 201780097621.8
• 申請日: 2017-12-11
• 公開（公告）號: CN111433038B
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發明（設計）人: S.T.卡斯爾;D.E.安德森;J.M.加納;E.馬丁
• 申請（專利權）人: 惠普發展公司;有限責任合伙企業
• 主分類號: B41J2/195
• 分類號: B41J2/195
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 佘鵬;劉茜

1.一種流體儲存器，包括：

在所述流體儲存器中延伸的電路，所述電路在使用期間至少部分地與所述流體儲存器內的流體接觸；

耦接到所述電路的至少第一阻抗傳感器和第二阻抗傳感器；

其中，所述至少第一阻抗傳感器和第二阻抗傳感器輸出表示所述流體中的顆粒分離程度的阻抗值，

其中，所述電路還包括評估器模塊，以評估來自所述至少第一阻抗傳感器和第二阻抗傳感器中的每一個的感測到的所述流體中的顆粒分離程度，并且

其中，所述電路至少還包括第三阻抗傳感器，所述第三阻抗傳感器間隔開地放置在所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器之間，其中，所述評估器模塊用于：

也評估來自所述第三阻抗傳感器的感測到的所述流體中的顆粒分離程度，以及

當所述第一阻抗傳感器、所述第二阻抗傳感器和所述第三阻抗傳感器中的至少一個不與所述流體接觸時，忽略表示不與所述流體接觸的阻抗傳感器感測的阻抗值。

2.如權利要求1所述的流體儲存器，其中，比較器將比較的結果提供給與所述流體儲存器相關聯的處理裝置，并且其中，所述處理裝置啟動流體容器中的流體攪動過程。

3.如權利要求1所述的流體儲存器，還包括處于所述流體儲存器內的流體水平傳感器。

4.如權利要求3所述的流體儲存器，所述電路包括評估器模塊，所述評估器模塊用于：

評估來自所述至少第一阻抗傳感器和第二阻抗傳感器中的每一個的感測到的所述流體中的顆粒分離程度；以及

使用感測到的流體水平來校準所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器中的至少一個。

5.如權利要求1所述的流體儲存器，其中，所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器中的每一個包括暴露于所述流體的薄膜電阻器。

6.一種流體噴射裝置，包括：

流體噴射管芯；以及

包括電路的流體儲存器，所述電路包括第一阻抗傳感器和第二阻抗傳感器，所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器輸出表示所述流體儲存器內的流體中的顆粒分離程度的阻抗值，所述電路至少還包括第三阻抗傳感器，所述第三阻抗傳感器間隔開地放置在所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器之間；以及

評估器模塊，其評估所述第一阻抗傳感器、所述第二阻抗傳感器和所述第三阻抗傳感器處的感測阻抗值。

7.如權利要求6所述的流體噴射裝置，還包括流體水平傳感器，以將感測到的所述流體儲存器內的流體水平提供給與所述流體儲存器相關聯的處理器。

8.如權利要求7所述的流體噴射裝置，其中，感測到的所述儲存器內的流體水平被用于校準至少所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器。

9.如權利要求6所述的流體噴射裝置，其中，來自所述第一阻抗傳感器的感測阻抗值和來自所述第二阻抗傳感器的感測阻抗值相對保持在查找表中的值進行評估，所述查找表基于來自所述阻抗傳感器的感測阻抗值來提供均勻性水平。

10.如權利要求9所述的流體噴射裝置，其中，至少所述第一阻抗傳感器和所述第二阻抗傳感器測量所述流體儲存器內的流體水平。

11.一種確定打印流體中的顆粒分離的方法，包括：

從第一阻抗傳感器接收所述打印流體的第一感測阻抗值；

從第二阻抗傳感器接收所述打印流體的第二感測阻抗值；

從第三阻抗傳感器接收所述打印流體的第三感測阻抗值；

相對至少一個閾值來評估至少所述第一感測阻抗值、所述第二感測阻抗值和所述第三感測阻抗值，以確定所述打印流體中的顆粒濃度；以及

基于所述顆粒濃度來執行補救過程。

12.如權利要求11所述的方法，其中，相對所述至少一個閾值來評估所述第一感測阻抗值、所述第二感測阻抗值和所述第三感測阻抗值提供了所述打印流體內的顆粒分離梯度值。

13.如權利要求12所述的方法，其中，所述梯度值相對保持在查找表中的值進行評估，所述查找表基于來自所述阻抗傳感器的感測阻抗值來提供均勻性水平，以便在所述第一阻抗傳感器、所述第二阻抗傳感器和所述第三阻抗傳感器中的任何阻抗傳感器之中確定顆粒分離。