[發(fā)明專利]用于對標準圖像和全光圖像的同時捕捉的設(shè)備和過程

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780095232.1
• 申請日: 2017-09-26
• 公開（公告）號: CN111465885A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: M·丹格洛;A·加魯喬;F·V·佩佩;O·瓦卡雷利
• 申請（專利權(quán)）人: 巴里大學
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G06T7/557
• 代理公司: 上海專利商標事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 陳斌

1.一種用于對場景的攝影圖像、電影圖像、顯微圖像或立體圖像進行全光捕捉的過程，包括以下步驟：

借助于分離元件(11)將來自至少一個光源(4)的主光束(6)分成第一光束(7)和第二光束(8)；

將所述第一光束(7)和所述第二光束(8)分別引導(dǎo)朝向用于捕捉所述場景的空間度量的第一傳感器裝置(13)和用于捕捉所述場景的角度度量的第二傳感器裝置(14)，所述第一光束(7)適于被所述場景反射或者透射通過所述場景，所述角度度量適于提供被所述場景反射或透射通過所述場景的所述第一光束(7)的傳播方向，所述空間度量適于提供所述場景的圖像，

其特征在于，所述第一光束(7)穿過沿所述場景與所述第一傳感器裝置(13)之間的光的光路布置的主聚焦透鏡(Lb)，其中所述主聚焦透鏡(Lb)和所述第二傳感器裝置(14)被布置成使得所述至少一個光源(4)與所述第二傳感器裝置(14)之間的光的光路長度基本上等于所述至少一個光源(4)與所述主聚焦透鏡(Lb)之間的光的光路長度。

2.如權(quán)利要求1所述的過程，其特征在于，用于捕捉所述空間度量的所述第一傳感器裝置(13)捕捉所述場景的對象(5)的一級圖像。

3.如權(quán)利要求1或2所述的過程，其特征在于，用于捕捉所述角度度量的所述第二傳感器裝置(14)捕捉所述主聚焦透鏡(Lb)的二級圖像。

4.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，進一步包括以下步驟：通過將均由所述第一和第二傳感器裝置(13，14)捕捉的所述空間度量和所述角度度量進行相關(guān)的過程來處理所述空間度量和所述角度度量以獲得全光圖像。

5.如權(quán)利要求4所述的過程，其特征在于，將所述空間度量和所述角度度量進行相關(guān)的所述過程包括：將所述第一傳感器裝置(13)的每個像素與所述第二傳感器裝置(14)的至少一個像素進行相關(guān)。

6.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，所述分離元件(11)是分束器。

7.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，所述第一傳感器裝置(13)和所述第二傳感器裝置(14)是用于捕捉圖像的兩個相異圖像捕捉傳感器。

8.如前述權(quán)利要求1至6中任一項所述的過程，其特征在于，所述第一傳感器裝置(13)和所述第二傳感器裝置(14)是用于捕捉圖像的圖像捕捉傳感器的兩個相異部分。

9.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，所述第二光束(8)借助于至少一個反射元件(12)被引導(dǎo)到所述第二傳感器裝置(14)上。

10.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，所述第一光束(7)借助于至少一個反射元件(12)被引導(dǎo)到所述第一傳感器裝置(13)上。

11.如前述權(quán)利要求中任一項所述的過程，其特征在于，所述第二光束(8)穿過沿所述分離元件(11)與所述第二傳感器裝置(14)之間的光的光路布置的第二聚焦透鏡(La)。

12.如權(quán)利要求11所述的過程，其特征在于，所述第二聚焦透鏡(La)被布置成滿足下式：

1/za+1/zb＝1/F

其中za是所述第二聚焦透鏡(La)與所述主聚焦透鏡(Lb)的二級圖像的平面之間的光的光路長度，其中所述主聚焦透鏡(Lb)的所述二級圖像的所述平面與所述光源(4)之間的光的光路長度基本上等于所述光源(4)與所述主聚焦透鏡(Lb)之間的光的光路長度，zb是所述第二聚焦透鏡(La)與所述第二傳感器裝置(14)之間的光的光路長度，并且F是所述第二聚焦透鏡(La)的焦距。

13.如權(quán)利要求12所述的過程，其特征在于，所述第二聚焦透鏡(La)被設(shè)計成在所述第二傳感器裝置(14)上再現(xiàn)所述主聚焦透鏡(Lb)的所述二級圖像。