[發明專利]用于配置電磁流量計的方法和系統

有效

• 申請號: 201780093074.6
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN110945324B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: S.達斯古普塔
• 申請（專利權）人: ABB瑞士股份有限公司
• 主分類號: G01F1/58
• 分類號: G01F1/58;G01F15/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鄭浩;劉春元

本發明涉及一種配置電磁流量計的方法及其電磁流量計。該方法包括：使用模型針對電磁流量計的校準條件獲得流體的流速與電勢之間的第一相關因子；使用模型針對位點的條件獲得流體的流速與電勢之間的第二相關因子，在所述位點中，安裝電磁流量計；將第一相關因子和第二相關因子比較以確定差值，并且如果該差值超過預設閾值，則采用第二相關因子的值，以用于配置電磁流量計。

技術領域

本發明一般涉及電磁流量計，并且更特別地涉及一種用于根據某個位點的條件來配置電磁流量計的方法和系統，在所述位點中，安裝電磁流量計。

背景技術

對通過導管或管道的流體的流量進行測量可以通過多種方式（如使用電磁流量計）進行。

典型的電磁流量計根據法拉第電磁感應定律來工作。在具有以某個等級的導電率的流體流的流管內施加電磁場。使用提供在管道側壁處的電極來測量由于電磁場與流體分子（流體中的離子）的相互作用而感應的電動勢（EMF）。所測量的EMF與流速成比例，并因此用來測量流速。雖然在電磁流量計是精確的并且在構造上是簡單化的假定下，電磁流量計是吸引人的，但是位點的條件在確保正確測量電磁流量計中流動的流體的流速中也是重要的，在所述位點處，安裝電磁流量計。

電磁流量計可以安裝在某個位點處，所述位點具有特定于所述位點的不同安裝條件。在流量計的上游管道中像彎曲部（bend）、閥、異徑管（reducer）等的條件可引起流到電磁流量計的流體中的擾動。換句話說，上游擾動根據標準實驗室條件下（在校準規程期間）獲得的值來更改電磁流量計的校準因子。下游擾動對電磁流量計的測量值影響很小，然而這不能被忽略。

在電磁流量計中已經遭遇上游流動剖面（flow profile）擾動對測量精度的影響。當前用來克服這個的實踐是要使用流體流量矯正器（straightener）或設計成修改流量并因此引起流動剖面均勻性的障礙物。然而，此類特征可引起壓降，具有可制造性問題，并且可能取決于流體溫度和/或成分而遭受腐蝕/侵蝕。而且，由于若干類型的上游擾動（例如，由于彎曲部引起的擾動、由于閥引起的擾動等），流動剖面擾動可具有若干類型。設計針對所有此類擾動的通用流量調節器是一個挑戰。

因此，存在對一種配置電磁流量計的方法的需要，該方法能夠在不同類型的流動條件（如彎曲部、閥、異徑管等）下提供流體流速的正確測量，并且還使得在電磁流量計本身的安裝期間，能夠采取校正動作并且能夠調整誤差。

發明內容

本文中解決了上面提到的缺點、不利和問題，這將通過閱讀和理解以下說明書來理解。

在一個方面中，本發明提供了一種配置用于測量流管中的流體流量的電磁流量計的方法，所述電磁流量計包括：用于配置所述電磁流量計的一個或多個計算裝置；用于產生與經過所述流管的流體相互作用的電磁場的至少一個線圈；用于測量由電磁場在所述流體中的相互作用產生的電動勢的一對電勢感測電極，所述方法包括以下步驟：使用模型針對所述電磁流量計的校準條件獲得在所述流管中流動的流體的流速值與針對所述流管中流動的所述流體的在一對電極之間所產生的電勢的值之間的第一相關因子；使用所述模型基于位點的一個或多個條件獲得在所述流管中流動的流體的流速值與針對電磁流量計的流管中流動的流體的在一對電極之間所產生的電勢的值之間的第二相關因子，在所述位點中安裝所述電磁流量計；將所述第一相關因子和所述第二相關因子比較，以確定所述第一相關因子和所述第二相關因子之間的差值；以及基于所述第一相關因子和所述第二相關因子之間的差值，采用所述第一相關因子的值或所述第二相關因子的值中的至少一個以用于配置電磁流量計。

在實施例中，將該差值與預設閾值進行比較，以用于采用第一相關因子或第二相關因子中的至少一個值。

在實施例中，所述位點的一個或多個條件是以下中的至少一個：在至少一個線圈中流動的電流的水平；線圈中的匝數；電磁流量計的一個或多個尺寸、彎曲部的定向；閥的存在；異徑管的存在；針對流體流動的阻礙物的存在。