[發明專利]分光光度計

有效

• 申請號: 201780088686.6
• 申請日: 2017-04-20
• 公開（公告）號: CN110494721B
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發明（設計）人: 渡邊真人;軍司昌秀
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01J3/36
• 分類號: G01J3/36;G01N21/17;G01N21/27
• 代理公司: 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291
• 代理人: 楊楷;毛立群

1.一種作為液相色譜儀用檢測器的分光光度計，該分光光度計具備：

光源；

流動池，配置在來自所述光源的光的光路上，供試樣流動；

分光器，對經過所述流動池的光按照波長成分進行分光；

光電二極管陣列，被配置為對入射光的光量進行檢測的多個光電二極管向一個方向排列，使得由所述分光器分光后的各個波長成分的光分別入射至所述各個光電二極管的受光面；

透光性保護板，對所述光電二極管陣列的受光面進行保護，

其特征在于，

所述分光器與所述光電二極管陣列的位置關系被設定為，在構成所述光電二極管陣列的所述光電二極管中至少對具有200nm～300nm之間的波長的光進行接收的所述光電二極管的受光面反射的光的反射位置、與該反射光在所述保護板再次反射并入射至該光電二極管陣列的所述受光面時的入射位置之間的距離，為構成該光電二極管陣列的1個光電二極管的寬度尺寸以下或者該分光光度計的最小光譜分辨率以下。

2.如權利要求1所述的分光光度計，其特征在于，

所述分光器與所述光電二極管陣列的位置關系被設定為，使由所述分光器分光后的光中具有200nm～300nm之間的規定的波長的光的光軸相對于所述一個方向正交。

3.如權利要求2所述的分光光度計，其特征在于，

所述規定的波長為250nm。

4.如權利要求1所述的分光光度計，其特征在于，

所述分光器與所述光電二極管陣列的位置關系被設定為，使得由所述分光器分光后的光的光軸相對于和所述光電二極管陣列的受光面的平面內的所述一個方向正交的方向傾斜，從而使在所述光電二極管陣列的所述受光面反射的光偏離所述分光器。

5.如權利要求1所述的分光光度計，其特征在于，

在所述光電二極管的所述受光面、所述保護板的所述光電二極管側表面以及所述保護板的與所述光電二極管相反側的表面中的至少1個面，設置有降低反射率的反射防止膜。

6.如權利要求1～5的任一項所述的分光光度計，其特征在于，

還具備入口狹縫，設置在向所述分光器入射的光的光路上，

所述入口狹縫與所述分光器的位置關系被設定為，使得在所述入口狹縫被反射的來自所述分光器的光偏離所述分光器。

7.一種作為液相色譜儀用檢測器的分光光度計，該分光光度計具備：

光源；

流動池，配置在來自所述光源的光的光路上，供試樣流動；

分光器，對經過所述流動池的光按照波長成分進行分光；

光電二極管陣列，被配置為對入射光的光量進行檢測的多個光電二極管向一個方向排列，使得由所述分光器分光后的各個波長成分的光分別入射至所述各個光電二極管的受光面；

透光性保護板，對所述光電二極管陣列的受光面進行保護，

其特征在于，

所述分光器與所述光電二極管陣列的位置關系被設定為，使由所述分光器分光后的光中具有200nm～300nm之間的規定的波長的光的光軸相對于所述一個方向正交。

8.如權利要求7所述的分光光度計，其特征在于，

還具備入口狹縫，設置在向所述分光器入射的光的光路上，

所述入口狹縫與所述分光器的位置關系被設定為，使得在所述入口狹縫被反射的來自所述分光器的光偏離所述分光器。