[發明專利]光學式分選機的刮拭機構

有效

• 申請號: 201780080536.0
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN110099754B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 河村陽一
• 申請（專利權）人: 株式會社佐竹
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;G01N21/15;G01N21/85
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 金成哲;王莉莉

本發明提供刮拭器的往復驅動機構不會因粉塵等受到污損并能夠清掃光學部的透明板的光學式分選機的刮拭機構。上述光學式分選機的上述光學部的上述刮拭機構具有供被分選物落下的落下空間和用于配設檢測上述被分選物的光學檢測單元的密閉空間。在上述光學式分選機的光學部的上述兩空間的隔壁具有能夠使上述光學檢測單元進行上述被分選物的檢測的透明板。在上述光學部的上述落下空間配設有與上述透明板抵接來清掃該透明板的刮拭器，并在上述密閉空間配設有使上述刮拭器沿上述透明板滑動的往復驅動機構。上述刮拭器與上述往復驅動機構的可動部經由上述兩空間的隔壁并通過磁力而能夠一體移動地連結。

技術領域

本發明涉及基于色彩等來分選谷物類、樹脂顆粒等粒狀物或者海苔等片狀物的光學式分選機，尤其涉及光學式分選機中的用于清掃光學部的透明板的刮拭機構。

背景技術

現今，公知有以下光學式分選機：基于色彩等將米、麥類、豆類、堅果類等谷物類、顆粒、滾珠等樹脂片、醫藥品、礦石類、白砂等微小的物品、由其它粒狀物、片狀物等構成的原料分選為合格品和不合格品，或者排除混入原料中的異物等。

上述光學式分選機在光學部中由光學檢測裝置檢測從滑槽的下端等落下的粒狀物等，基于該檢測信號進行優劣判定，并基于該優劣判定結果從落下軌跡排除并進行分選，從而按照優劣進行排出。

然而，在上述光學式分選機中，在上述光學部設有密閉空間，在上述密閉空間內配設有構成上述光學檢測裝置的光源、背景以及受光傳感器，并且在上述密閉空間的檢測上述粒狀物等一側的隔壁裝配有玻璃等透明板。

由此，上述光學式分選機能夠防止上述光學檢測裝置因伴隨上述粒狀物等的落下而飛散的粉塵等受到污損，并且能夠由上述光學檢測裝置進行上述粒狀物的檢測。

然而，在上述光學式分選機中，由于在上述光學部中在上述透明板的上述粒狀物等落下的空間側的一面附著上述粉塵等，所以有分選精度降低的問題。

因此，提出了一種利用刮拭器清掃上述透明板的上述粒狀物等落下的空間側的一面進行的刮拭機構(參照專利文獻1～3。)。

在專利文獻1所記載的刮拭機構中，在粒狀物等落下的空間配設有螺桿軸，利用上述螺桿軸的動作來往復驅動刮拭器。

并且，在專利文獻2所記載的刮拭機構中，在粒狀物等落下的空間配設有環狀線，利用上述環狀線的動作來往復驅動刮拭器。

另外，在專利文獻3所記載的刮拭機構中，在粒狀物等落下的空間配設有無桿缸筒，利用上述無桿缸筒的動作來往復驅動刮拭器。

根據上述專利文獻1～3所記載的刮拭機構，在上述光學部中，能夠利用刮拭器清掃上述透明板的上述粒狀物等落下的空間側的一面，因而能夠防止光學式分選機的分選精度的降低。

然而，上述專利文獻1～3所記載的刮拭機構均在粒狀物等落下的空間配設有刮拭器的往復驅動機構，有上述往復驅動機構因上述粉塵等受到污損的問題。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本實愿昭55-33089號(日本實開昭56-137782號)的微膠片

專利文獻2：日本特開昭58-17341號公報

專利文獻3：日本特開平2-21980號公報

發明內容

發明所要解決的課題

因此，本發明的目的在于提供一種光學式分選機的光學部的刮拭機構，清掃光學部的透明板的刮拭器的往復驅動機構不會因粉塵等受到污損。

用于解決課題的方案