[發明專利]復合加工系統及復合加工方法

有效

• 申請號: 201780073698.1
• 申請日: 2017-11-20
• 公開（公告）號: CN110023033B
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發明（設計）人: 仲神俊明;白倉晃;伊佐地秀樹;中筋智明;長谷川森;木村政稔;淺見文彥
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: B23Q41/00
• 分類號: B23Q41/00;B23Q17/20;B24B49/02;G05B19/418
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 何立波;張天舒

1.一種復合加工系統，其具有：

第1加工裝置，其基于由工件的尺寸的設計值和與所述設計值對應的校正值確定的所述工件的尺寸的目標值，對所述工件進行加工；

第2加工裝置，其具有對由所述第1加工裝置加工后的所述工件的尺寸進行測量的測量部，基于由所述測量部測量出的測量值，針對加工后的所述工件，進行與所述第1加工裝置進行的加工相同或者類似的加工；以及

校正值生成部，其基于由所述測量部測量出的所述測量值、所述設計值、所述校正值中的至少1個，生成新的校正值，

所述第1加工裝置基于由所述設計值和所述校正值生成部生成的新的校正值確定的工件的尺寸的目標值，對其它工件進行加工。

2.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

所述第2加工裝置具有對表示所述工件的尺寸的測量值、所述工件的尺寸的公差的上限值即公差上限值、和所述公差的下限值即公差下限值的信息進行存儲的第2加工裝置存儲部，如果判定為從所述測量值減去所述設計值而得到的尺寸誤差超過所述公差上限值，則針對所述第1加工裝置加工后的所述工件，執行與所述第1加工裝置進行的加工相同或者類似的加工。

3.根據權利要求2所述的復合加工系統，其中，

所述第2加工裝置如果判定為所述尺寸誤差小于所述公差下限值，則將所述工件排出。

4.根據權利要求2或3所述的復合加工系統，其中，

所述第2加工裝置存儲部還存儲表示包含于與所述尺寸誤差對應的所述公差且不變更所述校正值的不變范圍的信息，

所述校正值生成部在由所述第2加工裝置判定為所述尺寸誤差包含于所述公差的情況下，如果判定為所述尺寸誤差包含于所述不變范圍，則將新的校正值的生成跳過，如果判定為所述尺寸誤差處在所述不變范圍外，則生成新的校正值。

5.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

所述測量部輸出對與所述工件的旋轉軸正交的多個方向上的尺寸進行測量而得到的多個測量值的最小值。

6.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

所述第1加工裝置存在多個，

所述第2加工裝置存在至少1個，

所述多個第1加工裝置各自將加工后的工件向所述至少1個第2加工裝置投入。

7.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

所述第1加工裝置存在至少1個，

所述第2加工裝置存在多個，

所述至少1個第1加工裝置將加工后的工件向所述多個第2加工裝置的任意者投入。

8.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

所述第1加工裝置存在多個，

所述第2加工裝置以與所述第1加工裝置相同的數量存在，

所述多個第1加工裝置針對所述工件，依次執行加工，

所述多個第2加工裝置針對所述多個第1加工裝置加工后的所述工件，依次執行尺寸的測量，

所述校正值生成部根據由所述多個第2加工裝置各自具有的測量部測量出的、由所述第1加工裝置加工后的所述工件的尺寸的測量值、所述工件的尺寸的設計值和所述校正值，生成與所述多個第2加工裝置各自相對應的第1加工裝置各自的新的校正值。

9.根據權利要求1所述的復合加工系統，其中，

還具有校正值存儲部，該校正值存儲部將所述校正值和對所述工件進行識別的識別信息相關聯而存儲，

所述第1加工裝置還具有第1識別信息讀取部，該第1識別信息讀取部讀取在所述工件的一部分設置的對所述工件進行識別的識別信息，

所述第2加工裝置還具有第2識別信息讀取部，該第2識別信息讀取部讀取在所述工件的一部分設置的對所述工件進行識別的識別信息，

所述校正值生成部根據由所述測量部測量出的所述測量值、所述設計值和所述校正值，生成新的校正值，使生成的新的校正值與對應于所述測量值的識別信息相關聯而存儲于所述校正值存儲部。