[發明專利]太赫茲測量儀

有效

• 申請號: 201780064195.8
• 申請日: 2017-10-17
• 公開（公告）號: CN109964096B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: R.克洛澤;R.伯姆
• 申請（專利權）人: 因諾伊克斯壓鑄技術創新設備有限責任公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B21/04;G01S17/08;G01N21/3581
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 宣力偉;李雪瑩

1.用于求取檢查對象（20、120、220）的至少一個層厚度（a1、a2、a3、a4）的太赫茲測量儀（1），其中，該測量儀（1）具有：

用于沿著光學軸線（A）發射太赫茲輻射和用于沿著所述光學軸線（A）接收所反射的太赫茲輻射的太赫茲發射和接收單元（14），

用于操控該太赫茲發射和接收單元（14）的控制裝置（10），

其特征在于，

該太赫茲測量儀具有用于由用戶抓握和定位的把手區域（34），并且

該太赫茲測量儀在前端部區域上具有貼靠輪廓（7），該貼靠輪廓有四個貼靠點（P1、P2、P3、P4）以用于貼靠在所述檢查對象（20、120、220）的柱形的表面（18、118、218）上，以便將所述光學軸線（A）垂直地定位在表面（18、118、218）上，

其中如此構造所述貼靠輪廓（7），使得在將所述貼靠輪廓（7）貼靠到有限定的直徑（D1、D2、D3）的檢查對象（20、120、220）的柱形的表面（18、118、218）上時正好有四個用于貼靠的貼靠點（P1、P2、P3、P4），其中，四個貼靠點（P1、P2、P3、P4）處在垂直于所述光學軸線（A）的平面中，

所述貼靠輪廓（7）針對有待測量的表面（18、118、218）具有兩條沿垂直于所述光學軸線（A）的橫向方向彼此間隔的輪廓線（7-1、7-2；7-3、7-4），其中，在每一條輪廓線（7-1、7-2；7-3、7-4）上分別為有待測量的限定的表面構造兩個貼靠點（P1、P2；P3、P4），其中，所述輪廓線構造成彼此平行或彼此鏡像對稱。

2.根據權利要求1所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述太赫茲測量儀（1）是能攜帶的并且具有25cm至50cm的長度。

3.根據權利要求1或2所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述貼靠輪廓（7）構造在能更換的、能剛性地固定在限定的角度位置中的套筒（5）上。

4.根據權利要求3所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述套筒（5）是金屬制的成形遮光板，該成形遮光板設置用于屏蔽散射并且設置用于固定在所述太赫茲測量儀（1）的測量頭（3）上。

5.根據權利要求4所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述套筒（5）在其后端部上具有用于限定地套裝在所述測量頭（3）的或基體殼體（2）的引導螺栓（4）上的卡槽（6），并且在其前端部上具有貼靠輪廓（7）。

6.根據權利要求1所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，用一對輪廓線（7-1、7-2）能通過貼靠分別測量至少兩個不同的表面（18、118），其中，不同的表面（18、118）在一對輪廓線（7-1、7-2）的不同的位置上的貼靠點（P1、P2）構造有彼此不同的間距，其中，所述輪廓線（7-1、7-2；7-3、7-4）基本上凹入地構造并且朝著它們的中點向后延伸。

7.根據權利要求1所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述太赫茲測量儀具有兩對輪廓線（7-1、7-2；7-3、7-4），所述輪廓線在所述貼靠輪廓（7）上沿樞轉方向（s）圍繞所述光學軸線（A）彼此偏置90°，以便測量有不同的直徑（D1、D2、D3）的柱形的或球形的表面（18、118、218）。

8.根據權利要求1或2所述的太赫茲測量儀（1），其特征在于，所述太赫茲測量儀還具有下列組的一個或多個元件：

- 蓄能器（11）、即電池，其用于對所述太赫茲發射和接收單元（14）和所述控制裝置（10）自給自足地供電、對所述太赫茲測量儀（1）完全自給自足地供能，

- 操作裝置（35）、即開關，其用于啟動層厚度測量，

- 細長的基體殼體 （2），

- 顯示裝置（12）。