[發明專利]用于總輻射功率測量的精簡網格

有效

• 申請號: 201780060426.8
• 申請日: 2017-08-16
• 公開（公告）號: CN109791171B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: J·阿克斯蒙;E·西恩凱維奇;T·埃爾斯特羅姆;T·查普曼
• 申請（專利權）人: 瑞典愛立信有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;H04B17/10
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 于靜

一種用于執行天線系統的TRP測量的方法和裝置使用采樣網格，所述采樣網格考慮被測天線的球形幾何形狀和方向性，同時考慮測試時間。所述采樣網格的優化平衡了減少樣本數量以減少測試時間與確保TRP估計的準確性之間的權衡。

技術領域

本公開一般地涉及天線系統的輻射功率的測量，并且更具體地說，涉及用于使用精簡采樣網格來測量天線系統的輻射功率的方法和裝置。

背景技術

總輻射功率(或簡稱TRP)是一種有源測量，其用于確定天線或天線系統在連接到有源發射機時發送的總功率。用于測量TRP的一種方法是在被測設備(DUT)(也被稱為被測裝備(DUT))周圍的球體上的多個采樣點處執行輻射功率的測量，例如等效全向輻射功率(EIRP)測量。用于估計TRP的直接方法是在球體上以均勻間隔進行EIRP測量。該方法產生的誤差與EIRP測量之間的間隔(并且因此與EIRP測量的次數)相關。

當前有關3GPP中的空中(OTA)要求的討論考慮還針對帶內和雜散無用發射(例如相鄰信道發射)定義TRP測量。這將需要在大量頻率上進行TRP測量，并且可能具有非全向輻射方向圖。

當今眾所周知并且接受的用于計算TRP的方法基于以Δθn和Δφm的角度間隔，在單位球體的表面上測量θn和φm的EIRP，從而允許等角度方法采樣。粗略采樣間隔非常適合于測量不產生波束方向圖而是全向方向圖的設備，例如用戶設備(UE)。它還非常適合于測量有用載波TRP。但是，跨越整個球體周圍的整個頻域測量雜散發射的TRP可能導致大量測量時間。例如，在1度粒度下，整個球體對于僅一個頻率將產生64,800(180x360)個樣本。因為不能減少測試頻率的數量，所以發明者提出減小粒度以提供更粗略的網格，由此這將減少大量樣本和關聯的測試時間。該方法具有某些挑戰，因為僅提供更粗略的網格可能降低整體TRP值的準確性。對于不是全向并且具有相對較窄的半功率波束寬度的波束方向圖，這可以證明更是一個問題。例如，如果樣本未準確地捕獲主波束功率(或過度捕獲)，則這可能明顯導致TRP值的過度(或不足)估計。

因此，需要一種在測量工作與測量性能之間提供平衡的方法。

發明內容

一種用于執行天線系統的TRP測量的方法和裝置使用精簡采樣網格，所述精簡采樣網格考慮被測天線的球形幾何形狀和方向性，同時考慮測試時間。所述采樣網格的優化平衡了減少樣本數量以減少測試時間與確保TRP估計的準確性之間的權衡。

測量設置將包括被測基站、用于基站的測試和控制硬件和軟件、以及測量系統和測試設備。本公開的實施例涉及用于控制基站和測試環境的測試和控制硬件。

要進行測量的點集能夠減少到現有技術方法的50％。因此，TRP測量可以比以前更快地執行，這導致成本節省并且增加諸如消聲室之類的受限資源的容量。

本公開的示例性實施例包括用于進行天線系統的空中測量的方法。在一個實施例中，所述方法包括：定義圍繞所述天線系統的至少一個空間采樣網格，所述采樣網格具有根據所述天線系統的幾何形狀和/或所述天線系統的波束方向圖而變化的采樣點分布；以及在所述空間采樣網格的所述采樣點中的選定采樣點處測量接收功率。

本公開的其它實施例包括用于進行由定向天線系統發射的輻射功率的空中測量的測量設備。所述測量設備的一個實施例包括：測試天線，用于接收由所述定向天線系統發送的測試信號；測量電路，用于測量由所述測試天線接收的所述測試信號的接收功率；定位器，用于改變所述定向天線系統與所述測試天線的相對位置；以及控制電路。所述控制電路被配置為：定義圍繞所述定向天線系統的空間采樣網格，所述采樣網格具有根據所述定向天線系統的幾何形狀和/或有用覆蓋而變化的采樣點分布；控制所述定位器以在所述空間采樣網格中的采樣點處相對于所述定向天線系統來定位所述測試天線；以及控制所述測量電路以在所述空間采樣網格中的采樣點處測量接收功率。

附圖說明

圖1示出用于TRP測量的DUT和坐標系；