[發明專利]固化物、波長轉換片材、發光裝置、密封用構件及半導體發光裝置在審
| 申請號: | 201780054473.1 | 申請日: | 2017-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN109661418A | 公開(公告)日: | 2019-04-19 |
| 發明(設計)人: | 土居篤典;西田理彥;增井建太朗 | 申請(專利權)人: | 住友化學株式會社 |
| 主分類號: | C08G77/04 | 分類號: | C08G77/04;C08G77/44;C08K3/00;C08L83/04;C08L83/06;H01L23/29;H01L23/31;H01L33/50;H01L33/56;H01S5/022 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 楊宏軍;焦成美 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 固化物 散射 波數 聚硅氧烷樹脂 縮合 硅原子 半導體發光裝置 波長轉換片 核磁共振譜 氧原子鍵合 發光裝置 高耐熱性 高硬度 極大峰 橫軸 減去 小角 密封 歸屬 繪制 | ||
1.固化物,其包含縮合型聚硅氧烷樹脂固化物,且滿足下述(1)及(2),
(1)所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物的固體29Si-核磁共振譜中,存在歸屬于T體的硅原子的峰,
其中,所謂T體的硅原子,是指與3個氧原子鍵合的硅原子,
(2)下述的Kratky Plot中,利用下述式(A),由小角X射線散射的測定中使用的X射線的波數的范圍內的極大峰位置的波數求出的參數dMax為以下,
dMax=2π/qMax...(A)
其中,所謂Kratky Plot,是指通過下述方式得到的圖:
針對所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物的小角X射線散射的測定值,將小角X射線散射的測定中使用的X射線的波數作為橫軸,
將從利用小角X射線散射測得的測定散射強度減去空氣散射而得到的散射強度、乘以小角X射線散射的測定中使用的X射線的波數(單位:)的平方而得到的值作為縱軸,
進行繪制。
2.如權利要求1所述的固化物,其中,相對于所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物中包含的全部硅原子而言,所述T體的硅原子的比例為50摩爾%以上。
3.如權利要求2所述的固化物,其中,相對于所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物中包含的全部硅原子而言,T3硅原子的比例為50摩爾%以上,
其中,所謂T3硅原子,是指T體的硅原子中、3個氧原子均與其他硅原子鍵合的硅原子。
4.如權利要求1~3中任一項所述的固化物,其中,所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物包含式(A1)、式(A1’)、式(A2)或式(A3)表示的結構單元,
[化學式1]
式(A1)、式(A1’)、式(A2)及式(A3)中,
R1表示碳原子數為1~10的烷基或碳原子數為6~10的芳基,
R2表示碳原子數為1~4的烷氧基或羥基,
存在有多個的R1及R2各自可以相同也可以不同。
5.如權利要求4所述的固化物,其中,所述R1為甲基,
所述R2為碳原子數為1~3的烷氧基或羥基,存在有多個的R2可以相同也可以不同。
6.如權利要求1~5中任一項所述的固化物,其中,在所述縮合型聚硅氧烷樹脂固化物中分散有填料。
7.如權利要求6所述的固化物,其中,所述填料為波長轉換材料。
8.如權利要求7所述的固化物,其中,所述波長轉換材料為熒光體。
9.波長轉換片材,其將權利要求7或8所述的固化物作為形成材料。
10.發光裝置,其具有:
射出光的光源;和
被配置在從所述光源射出的光入射的位置的權利要求9所述的波長轉換片材。
11.密封用構件,其將權利要求1~8中任一項所述的固化物作為形成材料。
12.半導體發光裝置,其具有:
基材;
被配置在所述基材上的半導體發光元件;和
將所述半導體發光元件的至少一部分密封的密封用構件,
所述密封用構件為權利要求11所述的密封用構件。
13.如權利要求12所述的半導體發光裝置,其中,所述半導體發光元件的發光波長為400nm以下。
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